[发明专利]显示系统、控制系统、显示面板的分析方法和测试系统

说明书

本发明涉及显示系统、控制系统、显示面板的分析方法和测试系统。其中，所述显示系统包括：参考电压源；供应电压源；以及布置为阵列的多个像素，每个像素包括像素电路，所述像素电路包括：发光器件、驱动晶体管、存储电容器以及参考电压晶体管，参考电压晶体管用于在第一操作周期期间将所述驱动晶体管连接到所述参考电压源，以将所述存储电容器和所述发光器件共用的节点充电至所述参考电压，所述参考电压具有关断所述发光器件的大小，且在第二操作周期期间将所述驱动晶体管从所述参考电压源隔离，以使得所述驱动晶体管将如下的电压转移至所述节点，该电压是所述驱动晶体管的所述阈值电压和迁移率的函数。

本申请是申请日为2013年12月9日、发明名称为“用于AMOLED显示器的像素电路”的申请号为201380068756.3的专利申请的分案申请。

技术领域

本发明大体涉及在显示器中使用的电路以及用于对显示器(特别地，诸如有源矩阵有机发光二极管显示器之类的显示器)进行驱动、校准和编程的方法。

背景技术

显示器可以由均被单独的电路(即，像素电路)控制的发光器件的阵列构成，上述电路具有晶体管以用于选择性地控制电路以使这些电路编程有显示信息并且根据显示信息来发光。可以将在基板上制造的薄膜晶体管(TFT)结合到这种显示器中。随着显示器的老化，TFT往往在整个显示器面板中且随着时间表现出不均匀的特性。可以将补偿技术应用到这种显示器以实现显示器的图像均匀性并且消除显示器随着显示器老化的劣化。

在一些用于为显示器提供补偿以消除整个显示器面板中的随着时间的变化的方案中，利用监测系统来测量与像素电路的老化(即，劣化)相关的随时间变化的参数。然后，可以使用测量到的信息来通知像素电路的随后编程，以便确保通过调整编程来消除任何测量到的劣化。这种被监视的像素电路可能需要使用额外的晶体管和/或线路，以选择性地将像素电路连接到监测系统并为读取出信息做准备。额外的晶体管和/或线路的加入可能不期望地减少了像素间距(即，像素密度)。

发明内容

根据一个实施例，提供了一种用于控制显示器中的像素的阵列的系统，所述显示器中的每个所述像素包括像素电路，且所述像素电路包括：发光器件；驱动晶体管，其用于在发光周期期间根据所述驱动晶体管两端的驱动电压来驱动流经所述发光器件的电流，所述驱动晶体管具有栅极、源极和漏极；存储电容器，其连接到所述驱动晶体管的栅极，并用于控制所述驱动电压；参考电压源，其连接到第一开关晶体管，所述第一开关晶体管用于控制所述参考电压源至所述存储电容器的连接；编程电压源，其连接到第二开关晶体管，所述第二开关晶体管用于控制所述编程电压至所述驱动晶体管的栅极的连接；使得所述存储电容器存储如下电压，该电压等于所述参考电压与所述编程电压之间的差值；以及控制器，其被构造成用于：(1)提供编程电压，所述编程电压是用于已知目标电流的校准电压，(2)将流经所述驱动晶体管的实际电流读取至监测线，(3)在改变所述校准电压以使通过所述驱动晶体管提供的电流大体上等于所述目标电流的同时，关闭所述发光器件，(4)改变所述校准电压以使通过所述驱动晶体管提供的电流大体上等于所述目标电流，并且(5)基于所述驱动晶体管的预定电流-电压特性来确定对应于所改变的校准电压的电流。

另一个实施例提供了一种用于控制显示器中的像素的阵列的系统，所述显示器中的每个所述像素包括像素电路，且所述像素电路包括：发光器件；驱动晶体管，其用于在发光周期期间根据所述驱动晶体管两端的驱动电压来驱动流经所述发光器件的电流，所述驱动晶体管具有栅极、源极和漏极；存储电容器，其连接到所述驱动晶体管的栅极，并用于控制所述驱动电压；参考电压源，其连接到第一开关晶体管，所述第一开关晶体管用于控制所述参考电压源至所述存储电容器的连接；编程电压源，其连接到第二开关晶体管，所述第二开关晶体管用于控制所述编程电压至所述驱动晶体管的栅极的连接；使得所述存储电容器存储如下电压，该电压等于所述参考电压与所述编程电压之间的差值；以及控制器，其被构造成用于：(1)提供编程电压，所述编程电压是预定的固定电压，(2)将来自外部源的电流提供到所述发光器件，并且(3)读取所述驱动晶体管和所述发光器件之间的所述节点处的电压。