[发明专利]一种电池片测试机构有效

专利信息
申请号: 201710831290.8 申请日: 2017-09-15
公开(公告)号: CN107422217B 公开(公告)日: 2023-06-30
发明(设计)人: 李强;陆瑜 申请(专利权)人: 苏州迈为科技股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 孙仿卫;郝彩华
地址: 215200 江苏省苏州市吴江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 电池 测试 机构
【说明书】:

发明公开了一种电池片测试机构,电池片的正反面电极不对应,测试机构包括立板、在立板上上下滑动的上测试探针组件和下测试探针组件,上测试探针组件包括上探针排和固定在上探针排上的上探针,下测试探针组件包括下探针排和固定在下探针排上的下探针,上探针与电池片的正面电极对应,下探针与电池片的反面电极对应;测试机构还包括虚接探针,虚接探针固定在上探针排上并与下探针相对应,或者,虚接探针固定在下探针排上并与上探针相对应,测试时,上探针、下探针和虚接探针均抵在电池片上。该电池片测试机构结构简单,可在电池片进行测试时,使电池片上下表面的受力均衡,从而降低电池片的碎片率。

技术领域

本发明涉及电池片制造技术领域,具体涉及一种电池片测试机构。

背景技术

电池片在正负电极制成之后,需要根据自身的发电效率分成各个等级,以便于后续的组装和确定电池片的价格,经过效率等级区分后才能对成品电池片进行包装,而电池片测试机构能测试出电池片的效率,区分电池片属于哪个效率区间,电池片的定价也是由电池片的效率高低决定的。

现有技术中,电池片测试机构包括可上下升降的上测试探针组件和可上下升降的下测试探针组件,上测试探针组件位于电池片的上方,下测试探针组件位于电池片的下方,测试时,上测试探针组件和下测试探针组件相向运动夹紧电池片进行测试,这种电池片测试机构所测试的电池片的正反面电极结构是对应的,测试时,上测试探针组件和下测试探针组件作用在电池片上的力相对应可互相抵消,从而防止电池片破碎。

但这种测试机构具有一定的局限性,只能对正反面电极结构对应的电池片进行测试,而对于正反面电极结构不对应的电池片,例如叠瓦电池,由于电池片上下受力不均则容易导致电池片破碎。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术中的问题提供一种可对正反面电极结构不对应的电池片进行测试的电池片测试机构。

为达到上述目的,本发明采用的技术方案是:

一种电池片测试机构,所述电池片的正反面电极结构不对应,所述测试机构包括立板、能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上的上测试探针组件和下测试探针组件,所述上测试探针组件位于所述电池片的上方,所述下测试探针组件位于所述电池片的下方,所述上测试探针组件包括能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上的上探针排和固定设置在所述上探针排上的多个上探针,所述下测试探针组件包括能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上的下探针排和固定设置在所述下探针排上的多个下探针,所述上探针在所述上探针排上的位置与所述电池片的正面的电极相对应,所述下探针在所述下探针排上的位置与所述电池片的反面的电极相对应,测试时,多个所述上探针之间以及所述上探针与所述电池片的正面电极之间相导通,多个所述下探针之间以及所述下探针与所述电池片的反面电极之间相导通;所述测试机构还包括多个虚接探针,多个所述虚接探针之间不导通,所述虚接探针固定设置在所述上探针排上,且所述虚接探针在所述上探针排上的位置与所述下探针的位置相对应,所述虚接探针与所述上探针和所述电池片的正面电极均不导通,或者,所述虚接探针固定设置在所述下探针排上,且所述虚接探针在所述下探针排上的位置与所述上探针的位置相对应,所述虚接探针与所述下探针和所述电池片的反面电极均不导通,当所述电池片进行测试时,所述上探针、所述下探针和所述虚接探针均抵设在所述电池片上。

优选地,所述测试机构还包括在所述电池片进行测试时用于放置所述电池片的托盘组件,所述托盘组件能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上,所述托盘组件位于所述上测试探针组件和所述下测试探针组件之间。

进一步地,所述电池片经皮带传送机构传送到所述托盘组件上进行测试,所述皮带传送机构包括传送带,所述托盘组件包括能够沿上下方向滑动地设置在所述立板上的底板、固定设置在所述底板上的多块托板,多块所述托板依次顺序间隔设置,每相邻两块所述托板之间形成一容纳所述传送带钩槽,所述钩槽的宽度大于所述传送带的宽度,当对所述电池片进行测试时,所述电池片位于所述托板上,所述传送带位于所述钩槽内。

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