[发明专利]一种印刷品检测图像侧向偏移的几何校正方法及系统

权利要求书

1.一种印刷品检测图像侧向偏移的几何校正方法，其特征在于，所述几何校正方法包括：

根据导致侧向偏移失真的印刷设备震动幅度，针对线阵相机所采集的图像建立针对行像素的平滑核；

通过所述平滑核分别对参考图像和待检图像进行逐行像素横向平滑；

分别计算各行横向平滑中参考图像对应核内中心像素与待检图像对应核内中心像素的邻域像素差值的绝对值，以及待检图像对应核内中心像素与参考图像对应核内中心像素的邻域像素差值的绝对值，获得对应各行横向平滑的绝对值对；

从各行绝对值对中，选取每行对应的最小减影值；

根据各所述最小减影值的像素位置横坐标确定横向获取各所述最小减影值时的像素位置横坐标；

根据各所述像素位置横坐标计算行像素的偏移量，以将所述待检图像向所述参考图像进行像素横向畸变逐行校正。

2.根据权利要求1所述的印刷品检测图像侧向偏移的几何校正方法，其特征在于，所述计算参考图像对应核内中心像素与待检图像对应核内中心像素的邻域像素差值的绝对值，具体包括：

在参考图像对应核内中心像素与所述中心像素在待检图像中同位置像素的横向邻域像素依次进行绝对值差值运算，得到第一绝对值。

3.根据权利要求1所述的印刷品检测图像侧向偏移的几何校正方法，其特征在于，所述计算待检图像对应核内中心像素与参考图像对应核内中心像素的邻域像素差值的绝对值，具包括：

在待检图像对应核内中心像素与所述中心像素在参考图像中同位置像素的横向邻域像素依次进行绝对值差值运算，得到第二绝对值。

4.根据权利要求1所述的印刷品检测图像侧向偏移的几何校正方法，其特征在于，根据以下公式，选取每行对应的最小减影值Diff(x_d,y)：

其中，T(x,y)表示坐标为(x,y)的参考图像，D(x,y)表示坐标为(x,y)的待检图像；i表示邻域象素与中心象素在x方向上的坐标偏移值；x_d表示横向获取最小减影值Diff(x_d,y)时的像素位置横坐标；abs()表示取绝对值函数，min表示取最小值，N为平滑核的大小。

5.根据权利要求1所述的印刷品检测图像侧向偏移的几何校正方法，其特征在于，所述根据各所述像素位置横坐标计算行像素的偏移量，具体包括：

根据以下公式，计算对参考图像T(x,y)和待检图像D(x,y)同时进行平滑时的行像素的平滑核的核数量COUNT：

其中，X(x+i,y)表示所述平滑核所平滑到的范围内的像素值，μ表示X(x+i,y)的算术平均值，σ表示X(x+i,y)的标准差，i表示邻域象素与中心象素在x方向上的坐标偏移值；N为平滑核的大小；δ为设定的标准差σ的域值，如果σ≥δ，则核数量COUNT值加1，否则COUNT值不变；

根据以下公式，计算行像素的偏移量OFFSET：

其中，NC为参考图像的最大横向像素分辨率值，为横向获取最小减影时的像素位置横坐标。

6.根据权利要求5所述的印刷品检测图像侧向偏移的几何校正方法，其特征在于，所述偏移量OFFSET表示亚像素程度偏移，取小数值。

7.根据权利要求1所述的印刷品检测图像侧向偏移的几何校正方法，其特征在于，所述几何校正方法还包括：

根据所述偏移量将所述待检图像向所述参考图像进行像素横向畸变逐行校正，获得待检校正图像，以检测减影缺陷。

8.根据权利要求1所述的印刷品检测图像侧向偏移的几何校正方法，其特征在于，根据以下公式，确定待检校正图像DM(x,y)：

其中，表示向下取整函数，abs()表示取绝对值函数，OFFSET表示偏移量，表示坐标为的待检图像，表示坐标为的待检图像，表示坐标为的待检图像。

9.根据权利要求4所述的印刷品检测图像侧向偏移的几何校正方法，其特征在于，所述平滑核N的取值为3、5及7中任意一者。

10.一种印刷品检测图像侧向偏移的几何校正系统，其特征在于，所述几何校正系统包括：

建核单元，用于根据导致侧向偏移失真的印刷设备震动幅度，针对线阵相机所采集的图像建立针对行像素的平滑核；

横向平滑单元，用于通过所述平滑核分别对参考图像和待检图像进行逐行像素横向平滑；

差值计算单元，用于分别计算各行横向平滑中参考图像对应核内中心像素与待检图像对应核内中心像素的邻域像素差值的绝对值，以及待检图像对应核内中心像素与参考图像对应核内中心像素的邻域像素差值的绝对值，获得对应各行横向平滑的绝对值对；

选取单元，用于从各行绝对值对中，选取每行对应的最小减影值；

确定单元，用于根据各所述最小减影值的像素位置横坐标确定横向获取各所述最小减影值时的像素位置横坐标；

偏移计算单元，用于根据各所述像素位置横坐标计算行像素的偏移量，以将所述待检图像向所述参考图像进行像素横向畸变逐行校正。