[发明专利]仪表盘显示方法、装置、终端设备及存储介质在审
申请号: | 201710825118.1 | 申请日: | 2017-09-14 |
公开(公告)号: | CN108268230A | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 李磊;谭志杰;李泳章;梁博;邓俊俊;方小伟 | 申请(专利权)人: | 平安科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | G06F3/14 | 分类号: | G06F3/14;G06T11/20;G06T11/40;B60K35/00 |
代理公司: | 深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325 | 代理人: | 谭果林 |
地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 仪表盘 待显示数据 指示位置 存储介质 显示区域 终端设备 放大显示 获取目标 数据上限 显示数据 指针指向 直观 指针 | ||
1.一种仪表盘显示方法,其特征在于,包括:
获取待显示数据;
基于所述待显示数据,获取对应的数据上限、数据下限和N个阈值,其中,N≥2;
基于N个所述阈值,获取对应的仪表盘模板,所述仪表盘模板包括N+1个显示区域;
在所述仪表盘模板上显示所述数据上限、所述数据下限和N个所述阈值,以获取目标仪表盘;
基于所述待显示数据,获取所述待显示数据在所述目标仪表盘中的指示位置,控制指针指向所述指示位置。
2.如权利要求1所述的仪表盘显示方法,其特征在于,所述基于所述待显示数据,获取所述待显示数据在所述目标仪表盘中的指示位置,包括:
基于所述待显示数据,获取所述目标仪表盘中对应的目标显示区域;
获取所述目标显示区域的参数值,所述参数值包括区域上限值和区域下限值;
采用刻度偏移量计算公式对所述参数值进行处理,获取对应的刻度偏移量;
基于所述目标显示区域的区域下限值和所述刻度偏移量,获取所述待显示数据在所述目标仪表盘中的指示位置;
其中,所述刻度偏移量计算公式为Yi为第i个显示区域的刻度偏移量,Xi为待显示数据,Ai为第i个显示区域的区域上限值,Bi为第i个显示区域的区域下限值,Ni为第i个显示区域的刻度线数量。
3.如权利要求1所述的仪表盘显示方法,其特征在于,所述目标仪表盘中相邻两个显示区域的刻度精度不相同,每一所述显示区域的刻度精度采用刻度精度计算公式确定;
其中,所述刻度精度计算公式为Ki=(Ai-Bi)/Ni,Ki为第i个显示区域的刻度精度,Ai为第i个显示区域的区域上限值,Bi为第i个显示区域的区域下限值,Ni为第i个显示区域的刻度线数量。
4.如权利要求1所述的仪表盘显示方法,其特征在于,所述待显示数据包括业务数据;
所述基于待显示数据,获取对应的数据上限、数据下限和N个阈值,N≥2,包括:
基于所述业务数据,获取大数据平台中的历史数据;
从所述历史数据中选取最大值确定为所述数据上限,并选取最小值确定为所述数据下限;
采用线性回归算法对所述历史数据进行回归处理,获取对应的标准值;
获取用户输入的至少一个上限范围和至少一个下限范围;
基于所述上限范围和所述标准值确定一所述阈值,并基于所述下限范围和所述标准值确定一所述阈值。
5.如权利要求1所述的仪表盘显示方法,其特征在于,所述目标仪表盘相邻两个显示区域的刻度线的颜色不相同。
6.如权利要求5所述的仪表盘显示方法,其特征在于,所述目标仪表盘中所述指针的颜色与所述指示位置对应的所述显示区域的刻度线的颜色相同。
7.一种仪表盘显示装置,其特征在于,包括:
待显示数据获取模块,用于获取待显示数据;
数据参数获取模块,用于基于所述待显示数据,获取对应的数据上限、数据下限和N个阈值,其中,N≥2;
仪表盘模板获取模块,用于基于N个所述阈值,获取对应的仪表盘模板,所述仪表盘模板包括N+1个显示区域;
目标仪表盘获取模块,用于在所述仪表盘模板上显示所述数据上限、所述数据下限和N个所述阈值,以获取目标仪表盘;
指示位置确认模块,用于基于所述待显示数据,获取所述待显示数据在所述目标仪表盘中的指示位置,控制指针指向所述指示位置。
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