[发明专利]点灯测试装置及测试方法

说明书

本申请公开了一种用于显示装置的点灯测试装置以及测试方法，其中，点灯测试装置包括：控制模块，根据测试要求提供模式信息和参数信息；以及逻辑模块，用于在模式信息未转换时，根据模式信息和参数信息产生逻辑数据；转换模块，用于将逻辑数据转换成显示装置可识别的显示数据，所述转换模块对显示装置输出显示数据以进行点灯测试，其中，逻辑模块包括片内缓存区，片内缓存区用于在模式信息发生切换时，将切换后的模式信息和相应的参数信息储存为缓存信息，逻辑模块在相邻两帧之间的间隔区内根据缓存信息更新逻辑数据，用于点灯测试，可以有效解决模式切换时的闪屏画异现象。

技术领域

本发明涉及显示装置技术领域，更具体地涉及一种用于显示装置的点灯测试装置以及测试方法。

背景技术

液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)具有轻薄、节能、无辐射等诸多优点，因此已经逐渐取代传统的阴极射线管(CRT)显示器。目前液晶显示器被广泛应用于高清晰数字电视、台式计算机、个人数字助理(PDA)、笔记本电脑、移动电话、数码相机等电子设备中。

液晶显示装置在经过出厂之前必须都经过点灯测试。所谓点灯测试指的是将液晶显示装置的时序信号以及红、绿、蓝像素的灰阶电压、数据信号输入液晶显示装置，以检查液晶显示装置是否可以正常的工作。图1示出传统的点灯测试装置结构示意图。如图1所示，点灯测试装置100包括控制模块110、逻辑模块120、以及转换模块130。控制模块110例如为ARM(Acorn RISC Machine)处理器，用于根据测试要求提供模式信息以及参数信息，并且将模式信息与参数信息通过SPI(Serial Peripheral Interface，串行外设接口)通信发送至逻辑模块120，逻辑模块120例如为现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)。逻辑模块120根据所述模式信息与参数信息产生逻辑数据，所述逻辑数据包括时序信号和图像数据。转换模块130将所述逻辑数据转换成为显示装置140可识别的移动产业处理器接口(Mobile Industry Processor Interface，MIPI)信号或者嵌入式显示器端口(Embedded Display Port，EDP)信号，并发送给显示装置140，以完成对显示装置140的点灯测试，这里的转换模块130可以使用桥芯片(Bridge IC)。

然而，传统的点灯测试装置100在切换模式时，控制模块110会提供新的模式信息与参数信息，若当前帧的画面还没有刷新完成，会出现闪屏画异的现象。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种用于显示装置的点灯测试装置以及测试方法，可以有效解决模式切换时的闪屏画异现象。

根据本发明的一方面提供一种用于显示装置的点灯测试装置，包括：一种用于显示装置的点灯测试装置，包括：控制模块，根据测试要求提供模式信息和参数信息；以及逻辑模块，用于在模式信息未转换时，根据所述模式信息和所述参数信息产生逻辑数据；转换模块，用于将所述逻辑数据转换成所述显示装置可识别的显示数据，所述转换模块对所述显示装置输出所述显示数据以进行点灯测试，其中，所述逻辑模块包括片内缓存区，所述片内缓存区用于在模式信息发生切换时，将切换后的所述模式信息和相应的所述参数信息储存为缓存信息，所述逻辑模块在相邻两帧之间的间隔区内根据所述缓存信息更新所述逻辑数据。

优选地，所述逻辑模块还包括：检测单元，用于根据所述参数信息产生触发信号，在相邻两帧之间的所述间隔区内所述触发信号有效；以及输出单元，用于在所述模式信息未被切换时根据所述模式信息和所述参数信息产生所述逻辑数据，在所述模式信息被切换且所述触发信号有效时根据所述缓存信息更新所述逻辑数据。

优选地，所述逻辑数据包括图像数据和时序信号，所述输出单元与所述转换模块相连以提供所述图像数据，所述转换模块根据所述图像数据产生所述显示数据，所述输出单元与所述显示装置相连以提供所述时序信号，所述显示装置很具所述时序信号和所述显示数据显示画面。