[发明专利]用于光共享检测器的通用读出有效
申请号: | 201710821485.4 | 申请日: | 2017-09-12 |
公开(公告)号: | CN107817510B | 公开(公告)日: | 2023-05-12 |
发明(设计)人: | 付赓;F.P.M.霍伊肯斯菲尔德特詹森;钱华;金肖;郭建军 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01T1/208 | 分类号: | G01T1/208 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 师玮;王小东 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 共享 检测器 通用 读出 | ||
1.一种基于硅光电倍增管的检测系统,包括:
多个硅光电倍增管,所述多个硅光电倍增管关于多个闪烁晶体定位以形成闪烁块,其中,所述硅光电倍增管检测在一个或多个闪烁晶体中湮灭光子的相互作用,并产生一个或多个信号;
前端电路,所述前端电路包括多个缓冲放大器,每个缓冲放大器与至少一个相应的硅光电倍增管通信,以将一个或多个所述信号中继到多个组读出单元;
块读出电路,所述块读出电路耦连至所述前端电路,所述块读出电路对来自所述多个缓冲放大器的信号选择性求和;
控制和处理逻辑单元,所述控制和处理逻辑单元将控制信号单独或组合地提供至所述前端电路、所述组读出和所述块读出电路,并单独地或者组合地使用来自所述组读出单元和块读出电路中每一个的一个或多个信号,执行时间戳估计;
其中,来自一个或多个所述缓冲放大器的信号通过加法器求和,并提供代表所述组读出单元中的湮灭光子相互作用的定时信号和能量信号;并且其中,所述块读出电路使用信号的求和以提供代表所述闪烁块中的湮灭光子相互作用的块定时信号、块能量信号和位置。
2.根据权利要求1所述的基于硅光电倍增管的检测系统,还包括位于所述闪烁晶体和所述硅光电倍增管之间的一个或多个导光管。
3.根据权利要求1所述的基于硅光电倍增管的检测系统,其中,所述位置是二维或三维位置。
4.根据权利要求1所述的基于硅光电倍增管的检测系统,其中,所述组读出单元包括适应开关阵列,以从一个或多个选择的缓冲放大器适应性选择信号。
5.根据权利要求1所述的基于硅光电倍增管的检测系统,其中,所述定时信号是由选择的硅光电倍增管检测的湮灭光子的时间指示。
6.根据权利要求1所述的基于硅光电倍增管的检测系统,其中,所述能量信号提供由选择的硅光电倍增管检测的湮灭光子相互作用的总能量沉积。
7.根据权利要求1所述的基于硅光电倍增管的检测系统,其中,所述块读出电路包括加权加法器,所述加权加法器对来自所述多个缓冲放大器的信号求和,并将求和的定时信号提供到定时通道,将求和的能量信号提供至能量通道,并将加权的和信号提供至位置通道;其中,
所述定时通道具有定时输出,所述定时输出是在所述闪烁块中检测的湮灭光子相互作用的时间指示;
所述能量通道提供能量输出,所述能量输出为在所述闪烁块中检测的湮灭光子相互作用的总能量沉积;以及
所述位置通道具有输出信号,所述输出信号代表在所述闪烁块中检测的湮灭光子相互作用的至少二维位置。
8.根据权利要求4所述的基于硅光电倍增管的检测系统,其中,所述硅光电倍增管被分成多组,每个所述组与多个光耦连的闪烁晶体对应,并连接至相应的组读出电路。
9.根据权利要求4所述的基于硅光电倍增管的检测系统,其中,基于在所述闪烁块中检测的湮灭光子相互作用的光量子分布,确定在组读出单元中选择的缓冲放大器。
10.根据权利要求1所述的基于硅光电倍增管的检测系统,其中,反射器位于闪烁晶体的分组之间,以将所述闪烁块光隔离成子块。
11.根据权利要求10所述的基于硅光电倍增管的检测系统,其中,所述反射器位于所述子块之间,并与一个或多个所述硅光电倍增管对应以与所述组读出单元对准。
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