[发明专利]光写入装置以及图像形成装置

说明书

技术领域

本发明涉及光写入装置以及图像形成装置，尤其，涉及对由OLED的正向电压的变动或向OLED供应驱动电流的TFT的特性所引起的光量偏差进行校正的技术。

背景技术

近年来，图像形成装置的小型化的要求进一步变强，对于光写入装置(PH:Print Head(打印头))也以小型化为目的，正在从将现有的激光二极管(LD:Laser Diode)作为发光源的光扫描方式转换为将微小点的发光元件以线状配置的线光学方式。

进一步，对于图像形成装置的低成本化的要求也持续变强，作为将线光学方式的光写入装置低成本化的技术，对发光元件应用了有机LED(有机发光二极管(OLED:Organic Light Emitting Diode))的OLED-PH受到瞩目。由于OLED-PH能够将作为电流驱动型的发光元件的OLED和对OLED供应驱动电流而控制发光量的薄膜晶体管(TFT:Thin Film Transistor)形成在同一基板上，所以能够降低制造成本。

OLED除了应用于OLED-PH以外，还应用于图像接收装置。在图像接收装置中，由于很多个OLED二维配置且显示动态图像，所以OLED间的光量偏差容许至30％。另一方面，在OLED-PH中，若光量偏差超过1％，则对于印刷图像的影响被视觉辨认，难以实际使用。因此，在OLED-PH中，需要以高的精度来校正光量偏差。

例如，在将图11所示的OLED和对OLED供应与栅极-源极间电压Vgs相应的驱动电流的TFT进行了组合的大约15000个发光电路沿着主扫描方向排列的OLED-PH中，即使对各TFT输入了相同的栅极-源极间电压Vgs，各OLED的光量也未必恒定，会发生偏差。在这样的光量偏差中，考虑如图12所示的主要原因。

若这些主要原因中的阈值电压Vth或迁移率μ发生变动，则TFT供应的驱动电流(漏极电流)Id与阈值电压Vth和迁移率μ大致成比例，所以驱动电流Id发生变动。进一步，由于OLED的光量与发光效率α和驱动电流Id大致成比例，所以要是TFT的阈值电压Vth和迁移率μ以及OLED的发光效率α发生变动的话会产生光量偏差。

因此，例如，提出了将在对TFT通过了期望的驱动电流时的栅极-源极间电压Vgs保持在电容器中，并在OLED的发光时对TFT施加在该电容器中保持的栅极-源极间电压Vgs的技术。若这样，就能够消除由TFT的阈值电压Vth的变动所引起的光量偏差(参照专利文献1)。

此外，还提出了使全部OLED在同一条件下发光并检测每个OLED的发光量，根据检测出的光量而按每个OLED校正驱动条件的技术。若这样，就能够消除由OLED的发光效率α的变动所引起的光量偏差(参照专利文献2)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2012-58428号公报

专利文献2：日本特开2005-329634号公报

专利文献3：日本特开2004-252036号公报

专利文献4：日本特开2005-352148号公报

发明内容

但是，如图11所示，在对TFT和OLED的串联电路施加固定电压Vdd的状态下，若配合OLED的发光效率的变化而使驱动电流Id变化，则OLED的正向电压Vel发生变化，所以TFT的源极-漏极间电压Vsd发生变化。

如图13所示，TFT即使在饱和区域中要是源极-漏极间电压Vsd发生变化的话漏极电流Id也发生变化。因此，根据TFT的饱和区域中的源极-漏极间电压Vsd的偏移或OLED的正向电压Vel的变动也会发生光量偏差，但根据上述现有技术，不能消除由这样的原因所引起的光量偏差。

此外，若为了消除光量偏差而追加用于检测每个OLED的光量的光量传感器，则对低成本化有效的OLED-PH的优点被抵消，所以不好。

本发明是鉴于如上所述的问题而完成的，其目的在于，提供一种光写入装置以及图像形成装置，能够抑制由TFT的饱和区域中的源极-漏极间电压Vsd的偏移或OLED的正向电压Vel的变动所引起的光量偏差，而不会导致成本上升。