[发明专利]基于动态存储器错误模型估计的纠错码和读取调整

权利要求书

1.一种用于修改读取参数或解码参数的设备，包括：

存储器；以及

控制器，耦合到所述存储器，其中所述控制器被配置为

确定存储在存储器中的数据表示中的被估计为错误的比特的第一计数，确定数据表示中的具有高估计可靠性并被估计为错误的比特的第二计数，确定数据表示中的具有低估计可靠性并被估计为正确的比特的第三计数，并且基于所述第一计数、所述第二计数、和所述第三计数来修改在存储器处的读取操作中使用的至少一个读取参数或在解码所述数据表示中使用的至少一个解码参数。

2.如权利要求1所述的设备，其中所述控制器还被配置为从所述存储器接收数据表示和与所述数据表示相关联的可靠性信息，并且其中所述第一计数和所述第二计数基于所述数据表示和所述可靠性信息而被确定。

3.如权利要求1所述的设备，其中所述至少一个解码参数包括一个或多个对数似然比(LLR)值、一个或多个软比特值或其组合。

4.如权利要求1所述的设备，其中所述至少一个读取参数包括一个或多个读取阈值、一个或多个软比特增量值或其组合，所述一个或多个软比特增量值包括用来生成与数据表示相对应的可靠性信息的一个或多个电压阈值。

5.如权利要求1所述的设备，其中所述控制器还被配置为确定数据表示中的具有低估计可靠性并被估计为不正确的比特的第四计数、数据表示中的具有高估计可靠性并被估计为正确的比特的第五计数，并且其中所述控制器被配置为进一步基于所述第四计数和所述第五计数来修改所述至少一个读取参数或所述至少一个解码参数。

6.如权利要求5所述的设备，其中所述控制器还被配置为基于所述数据表示和与所述数据表示相关联的可靠性信息来确定与所述数据表示相关联的逐位校正子向量，其中所述第一计数、第二计数、和第三计数基于所述逐位校正子向量和所述可靠性信息。

7.如权利要求1所述的设备，其中所述控制器还被配置为至少部分地基于所述数据表示的比特的一个或多个计数值来估计错误模型，其中每个计数值指示具有不满足奇偶校验的比特值和数量的对应组合的比特计数，并且其中基于所述错误模型来修改所述至少一个解码参数或所述至少一个读取参数。

8.如权利要求7所述的设备，其中所述控制器还被配置为基于与线性回归模型相对应的数据或与一个或多个误比特率值相对应的数据来估计所述错误模型。

9.一种由用于修改读取参数或解码参数的设备的控制器执行的方法，所述方法包括：

确定存储在所述设备的存储器中的数据表示中的被估计为错误的比特的第一计数；

确定所述数据表示中的具有高估计可靠性并被估计为错误的比特的第二计数；确定数据表示中的具有低估计可靠性并被估计为正确的比特的第三计数；并且至少基于所述第一计数和所述第二计数来修改在存储器处的读取操作中使用的至少一个读取参数或在解码所述数据表示中使用的至少一个解码参数。

10.如权利要求9所述的方法，还包括使用经修改的所述至少一个读取参数发起在存储器处的读取操作，其中经修改的所述至少一个读取参数包括至少一个经修改的读取阈值、至少一个经修改的软比特增量值或其组合。

11.如权利要求9所述的方法，还包括使用经修改的至少一个解码参数对所述数据表示进行解码，其中所述经修改的至少一个解码参数包括至少一个修改的对数似然比(LLR)值、至少一个修改的软比特值或其组合。