[发明专利]一种用于X荧光光谱仪多准直器的定位结构

说明书

本发明公开了一种用于X荧光光谱仪多准直器的定位结构，包括：具有通孔的固定部件，转动安装在通孔内并与固定部件同心且在内部安装有多个准直器的筒体，安装在固定部件法兰上的固定定位部件和安装在筒体外表面与固定定位部件对应的转动定位部件；固定定位部件包括安装在固定部件法兰上的固定定位支座，和安装在固定定位支座上的弹性结构以及安装在弹性结构顶端的定位结构；转动定位部件包括安装在筒体上定位部件通孔的尾段和与尾段相联且伸出定位部件通孔的并与定位结构精密配合的头部结构以及与尾段另一端相联的紧固件;本发明可以避免要求较高的加工精度，也能满足多准直器结构的位置精确度要求。

技术领域

本发明属于X荧光光谱仪领域，尤其涉及其中的一种多准直器的定位结构。

背景技术

X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。色散型又分为波长色散型和能量色散型。波长色散型XRF光谱仪由X射线管激发源，分光系统，探测器系统，真空系统和气流系统等部分组成。根据分析晶体的聚焦几何条件不同,分为非聚焦反射平晶式,半聚焦反射弯晶式，全聚焦反射弯晶式，半聚焦透射弯晶式等。其原理是:试样受X射线照射后，元素的原子内壳层电子被激发，并产生壳层电子跃迁而发射出该元素的特征X射线，通过探测器测量元素特征X射线的波长（能量）的强度与浓度的比例关系，便可进行定量分析，其优点不破坏样品，分析速度快，适用于测定原子序数4以上的所有化学元素，分析精度高,样品制备简单；而目前国内尚未出现商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪，因此相应设备还处于空白阶段，因此需要对此设备进行进一步研发，而为了能够更加有效的测量多种类的物质组分，则需要使用多个准直器，而多个准直器的结构不可避免对位置精确度要求很高，因此需要一种既能满足位置精度又结构简单的定位结构。

发明内容

有鉴于此，需要克服现有技术中的上述缺陷中的至少一个。本发明提供了一种用于X荧光光谱仪多准直器的定位结构，包括：具有通孔的固定部件，转动安装在所述通孔内并与所述固定部件同心且在内部安装有多个准直器的筒体，安装在所述固定部件法兰上的固定定位部件和安装在所述筒体外表面与所述固定定位部件对应的转动定位部件；所述固定定位部件包括安装在所述固定部件法兰上的固定定位支座，和安装在所述固定定位支座上的弹性结构以及安装在所述弹性结构顶端的定位结构；所述转动定位部件包括安装在所述筒体上定位部件通孔的尾段和与所述尾段相联且伸出所述定位部件通孔的并与所述定位结构精密配合的头部结构以及与所述尾段另一端相联的紧固件。

根据本专利背景技术中对现有技术所述，国内尚未出现商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪，因此相应设备还处于空白阶段，因此需要对此设备进行进一步研发，而为了能够更加有效的测量多种类的物质组分，则需要使用多个准直器，而多个准直器的结构不可避免对位置精确度要求很高，因此需要一种既能满足位置精度又结构简单的定位结构，而当前技术则缺少此类多准直器结构的定位便捷结构；而本发明公开的用于X荧光光谱仪多准直器的定位结构，采用固定在固定部件上的固定定位部件和安装在与所述固定部件转动安装的筒体上的转动定位部件相配合，同时通过紧固件的安装使得所述转动定位可以进行位置调节并锁紧，由此可以避免要求较高的加工精度，同时也能满足多准直器结构的位置精确度要求。

另外，根据本发明公开的用于多准直器的定位结构还具有如下附加技术特征：

进一步地，所述尾段具有外螺纹与所述定位部件通孔内的内螺纹相配合。

通过尾段的外螺纹和定位部件通孔中的内螺纹可以对位置进行精确调节。

进一步地，所述转动定位部件的尾段具有外螺纹并穿过所述定位部件通孔，所述紧固件为包括两个相互锁紧的紧固件。

可选地，所述紧固件为两个，包括第一紧固件和第二紧固件，所述第一紧固件和第二紧固件都与所述尾段的外螺纹配合；