[发明专利]一种线损点检系统及方法有效

专利信息
申请号: 201710800744.5 申请日: 2017-09-07
公开(公告)号: CN109470939B 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 罗良萌 申请(专利权)人: 深圳市中兴微电子技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 518055 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 点检 系统 方法
【说明书】:

一种线损点检方法,包括以下步骤:通过线损设置策略调整频段对应的配置线损值,进行金机制作;利用所述金机对环境线损进行点检;增加频段的功率修正参数,消除调整频段对应的配置线损值带来的影响,获得点检环境下的真实功率。本发明还提供一种线损点检系统,克服了现有技术中存在的不同仪表间差异和测量精度问题,有效规避了金机点检小线损为负值问题,提高了工厂生产效率,节省了工厂及客户生产成本。

技术领域

本发明涉及通信数据类产品生产校准技术领域,特别是涉及一种生产校准站位的线损点检系统及方法。

背景技术

目前通讯数据类产品在生产校准流程中,通常在校准站位执行前都需要先用对应的金机进行环境线损点检,避免环境异常造成校准数据不准确问题。

在正式生产前都会制作相应型号机型的金机,在金机flash里面保存了某个固定PA控制字(功率控制字)的功率值Pa。在金机点检时发送已存固定PA的控制字,获取点检环境下的功率,之后通过算法计算环境线损并将线损填写到校准站位。在环境点检时功率与线损之间的公式:P=Pa+Ls-L。公式说明如下,P:环境点检时从仪表获取的功率;Pa:固定PA控制字发送的功率值,即是金机保存的功率值;Ls:点检环境时软件工具界面配置的线损;L为点检环境真实的线损。从公式可以得到环境真实线损L=Pa+Ls-P。

一般如果点检环境线损比较小的情况下,因不同的仪表存在差异及功率测量精度问题,就会导致金机点检线损计算出来的线损值为负值。通常在这种情况下需要更换大线损的射频线进行重做金机再进行重新点检,这对工厂使用射频线材料有一定的要求,效率低下,且提高了工厂成本和客户生产成本。或者点检出的线损在一定负值范围内(比如-0.1到-0.2以内),直接将站位线损设置为0,这样做又牺牲了一些校准精度。如果直接将环境线损设置为负值进行校准生产,容易引起困惑。

采用本发明所述系统及方法,即可以有效解决金机点检线损为负值的问题,又不增加客户或工厂成本。

发明内容

为了解决现有技术存在的不足,本发明的目的在于提供一种线损点检系统及方法,在保证校准值准确的同时,有效规避金机点检小线损为负值问题。

为实现上述目的,本发明提供的线损点检系统,包括,线损配置单元、金机制作单元、校准单元,以及点检单元,其中,

所述线损配置单元,其通过线损设置策略调整频段对应的配置线损值;

所述金机制作单元,其根据所述配置线损值,进行金机制作;

所述校准单元,其针对校准的每个频段设置一功率修正参数;

所述点检单元,其根据发送与金机制作时相同的PA控制字,对环境线损进行点检补偿。

进一步地,所述线损配置单元,其在金机制作时,根据频段对应的外部线损真实值的大小,确定是否调整频段对应的配置线损值。

进一步地,所述线损配置单元,当频段对应的外部线损真实值大于等于1dBm,对配置线损值不调整;当频段对应的外部线损真实值小于1dBm,调整配置线损值为:外部线损真实值+配置线损调整值。

进一步地,当频段对应的外部线损真实值小于等于0.3dBm,配置线损调整值为:3倍外部线损真实值;当频段对应的外部线损真实值大于0.3dBm且小于0.6dBm,配置线损调整值为:2倍外部线损真实值;当频段对应的外部线损真实值大于0.6dBm且小于1dBm,配置线损调整值为:0.4dBm。

更进一步地,所述校准单元,其将功率修正参数设置为配置线损调整值。

为实现上述目的,本发明提供的线损点检方法,包括以下步骤:

通过线损设置策略调整频段对应的配置线损值,进行金机制作;

利用所述金机对环境线损进行点检;

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