[发明专利]一种不同滑滚比下润滑薄膜摩擦力与磨损过程测量装置有效
申请号: | 201710800442.8 | 申请日: | 2017-09-07 |
公开(公告)号: | CN107402098B | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 栗心明;李宪鹏;杨萍;郭峰 | 申请(专利权)人: | 青岛理工大学 |
主分类号: | G01L5/00 | 分类号: | G01L5/00;G01N3/56;G01N3/06 |
代理公司: | 青岛高晓专利事务所(普通合伙) 37104 | 代理人: | 张世功 |
地址: | 266033 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 不同 润滑 薄膜 摩擦力 磨损 过程 测量 装置 | ||
本发明属于不同滑滚比下高副接触润滑薄膜摩擦力与磨损测量领域,特别涉及一种不同滑滚比下润滑薄膜摩擦力与磨损过程的测量装置,其主体结构包括支撑平台、圆盘驱动装置、球驱加载回转装置、回转装置、磨损测量装置、平移装置、测速装置和传感器固定装置,回转装置置于球驱加载装置的下侧,用以支撑和带动球驱加载装置转动,使球驱加载装置上的钢球转动到磨损测量装置的玻璃盘上,然后直接用以对磨损表面进行形貌测量,其整体设计构思巧妙,各装置之间布局合理,功能多样、切换灵活使用方便,能够对油膜摩擦力和磨损过程情况完成测量,实用性强,同时应用环境友好,市场前景广阔。
技术领域:
本发明属于不同滑滚比下高副接触润滑薄膜摩擦力与磨损测量领域,特别涉及一种不同滑滚比下润滑薄膜摩擦力与磨损过程的测量装置,能够对不同相对运动条件下高副接触零部件的摩擦磨损过程进行模拟测量。
背景技术:
探索相对运动的机械零部件间的摩擦磨损机制是摩擦学领域研究的重点。国内外学者围绕该问题开展了大量研究,以期在揭示摩擦磨损机制的基础上进行优化的摩擦学和润滑介质设计。然而,在零部件摩擦磨损过程中,接触副内的真实接触状态无法直接测量,这给揭示摩擦磨损机理带来了困难。另外,新型表面涂层和新型润滑材料的摩擦学性能也需要借助摩擦磨损数据进行定量表征。例如,不同运动状态和运动过程对处于混合润滑状态下表面粗糙度演化的影响,对处于边界润滑状态下表面吸附膜的影响,都需要定量测量。目前采用的摩擦磨损测量装置,一方面试样的表观形貌需要离线观察,无法对摩擦磨损过程中的表观形貌演化过程进行实时测量;另一方面无法同时实现不同滑滚比条件下摩擦力、膜厚和磨损的同时测量。已有的不同滑滚比条件下摩擦力和膜厚测量装置加载板运动不稳定对摩擦力测量产生扰动,同时张紧线在拉力作用下限制了润滑油膜的自由提升,使得膜厚数据测量不准确。
因此,为克服现有技术存在的缺陷,开发一种切实可行的实验装置对不同滑滚比条件下润滑薄膜摩擦力及磨损进行准确测量,因此设计了一种不同滑滚比条件下润滑油薄膜摩擦力和磨损测量模拟装置,能够实现润滑薄膜摩擦力和磨损过程的同时测量。
发明内容
为克服现有技术存在的缺陷,开发一种新的测量装置对不同滑滚比下润滑薄膜摩擦力和磨损过程进行准确测量,以用于揭示处于不同润滑状态下的摩擦学特性,在对不同滑滚比下润滑薄膜摩擦力和磨损过程研究中,为了简化分析将滚动体与轴承滚道的接触等效为滚动体与平面的接触,设计制备一种不同滑滚比下润滑薄膜摩擦力与磨损过程测量装置。
为解决上述技术问题,本发明涉及的不同滑滚比下润滑薄膜摩擦力与磨损过程测量装置的主体结构包括:支撑平台、圆盘驱动装置、球驱加载回转装置、回转装置、磨损测量装置、平移装置、测速装置和传感器固定装置,所述支撑平台的主体结构包括上平台、下平台、支撑柱、支撑脚和贯穿孔,所述上平台和下平台均为方形结构金属结构,并且上平台和下平台的长度与宽度相等,所述上平台和下平台之间通过四角处的圆柱形金属支撑柱连接,所述下平台的下侧面固定置有用以支撑底座的支撑脚,用以调平整个装置和防止下平台与地面接触,并且提高搬运的便捷性,所述上平台靠近左边沿中间处开有圆形贯穿孔,用以放置圆盘驱动装置。
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