[发明专利]一种DC测试中宕机故障定位方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及故障定位技术领域，具体地说是一种DC测试中宕机故障定位方法及系统。

背景技术

在服务器研发过程中，DC循环测试是必不可少的环节，该测试主要模拟用户实际使用中对设备的开关机操作，用来发现设备在开关机过程中的故障，以此来改进产品，提升产品质量。

DC循环测试采用测试仪器自动控制产品开关机，在一定的时间内达到产品设计所要求的开关机次数，根据产品的测试结果，进行判断产品设计是否达标。

在DC循环测试过程中，常遇到的故障是在开关机过程中出现宕机。该故障有以下几个特点：

该类故障是概率性出现，导致对故障发生条件难以预判；

该类故障复现困难，复现周期不确定，导致对故障现场抓取困难；

该类故障现场具有不可破坏性，即断电等操作对故障破坏后，故障往往消失；

DC测试是模拟用户的整机测试，故障发生后往往需要拆开整机露出电路测试点，才能用相关仪器(如万用表、示波器等)进行测量，抓取相关软硬件信息；

因此，抓取故障发生时软硬件信息对判断故障发生的原因、解决故障非常重要。

发明内容

本发明的目的在于提供一种DC测试中宕机故障定位方法及系统，用于解决目前故障排查困难、定位不准确的问题。

本发明解决其技术问题所采取的技术方案是：一种DC测试中宕机故障定位方法，在复现故障的过程中抓取软硬件信息，便于故障定位，具体包括以下步骤：

服务器将软件信息通过通讯电路上传给上位机；

采样分析逻辑电路采集并分析服务器的硬件信息，并通过显示设备显示；

根据软件信息和硬件信息相结合进行故障定位。

进一步地，通讯电路采集服务器的软件信息的具体方法包括：I2C总线获取软件信息，发送给BMC芯片，BMC芯片通过RJ45控制网口上传给上位机，上位机的IPMI Tool记录信息。

进一步地，IPMI Tool记录信息的方式包括：以串口日志的形式保存机器运行时的log。

进一步地，采样分析逻辑电路采用CPLD芯片，采样分析逻辑电路采集并分析服务器的硬件信息的方式具体包括：

CPLD以一定频率对关键信号采样；

根据采样的数据构建关键信号的实际波形；

将实际波形与要求的标准波形做对比；

判断所采集的关键信号是否符合要求；如果实际波形与要求的标准波形相同，则表示采集的关键信号符合要求；否则，不符合要求。

进一步地，进行故障定位的方法具体包括：根据采集到的软件信息与硬件信息进行对比，如果软件信息里出现了异常信号，但是采样分析逻辑电路并没有采集到相应的波形；或，如果软件信息没有出现异常信号，但是采样分析逻辑电路采集到相应的波形，则可对故障进行定位。

一种DC测试中宕机故障定位系统，利用所述的方法，包括服务器、通讯电路、采样分析逻辑电路、上位机、显示装置和故障定位装置；所述的服务器的硬件接口与采样分析逻辑电路的输入端相连，采样分析逻辑电路的输出端与显示装置的输入端相连，显示装置的输出端与故障定位装置相连；服务器的软件接口与通讯电路的输入端相连，通讯电路的输出端与上位机的输入端相连，上位机的输出端与故障定位装置相连。

进一步地，所述的通讯电路包括I2C总线、BMC芯片和RJ45控制网口；所述的BMC芯片通过I2C总线与服务器的软件接口相连，BMC芯片通过RJ45控制网口与上位机相连。

进一步地，所述的采样分析逻辑电路包括CPLD芯片，CPLD芯片的输入端与服务器的硬件接口相连，CPLD芯片的输出端与显示装置的输入端相连。

进一步地，所述的显示装置用于对硬件信息的分析结果进行显示，包括显示屏或多个LED灯。

进一步地，所述的故障定位装置用于判断哪个硬件电路出现了故障，进行故障的精确定位；故障定位装置进行故障定位的标准是将软件信息与硬件信息的区别。

发明内容中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是发明所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：

用于抓取DC测试宕机时的软、硬件信息，以便用于故障的分析和定位；可以避免传统方法操作时对故障现场的破坏。

不采用对关键信号预留测试点，方便Layout走线。同时，可以抓取特定波形的关键信号，较示波器更具有灵活性。

可以在复现故障的过程中实时抓取软硬件信息，和传统手段相比更加灵活和方便。

附图说明