[发明专利]一种基于对应特征点间距的磁滞回线吻合度量化方法

权利要求书

1.一种基于对应特征点间距的磁滞回线吻合度量化方法，其特征在于，包括：

步骤1、通过线积分计算回线总长L，以回线的一个端点作起点，即第1个特征点，逐点进行线积分，当某点i对应的积分长度大于L/N时，记i点为第2个特征点；依此类推，当某点j对应的积分长度大于nL/N时，记j点为第n+1个特征点，直到找到全部N个特征点，记下各点的坐标(H^m,B^m)，m＝1,2…N，H^m、B^m分别是仿真磁滞回线特征点的横坐标与纵坐标；计算已知磁滞回线特征点(H₀^m,B₀^m)与仿真回线对应特征点间(H^m,B^m)距离之和：

D=Σm=1N(H0m-Hm)2+(B0m-Bm)2]]>

H₀^m、B₀^m分别是已知磁滞回线特征点的横坐标与纵坐标，两条磁滞回线间吻合度越高，对应D值越小；

步骤2、对H和B分别进行归一化处理，即将两组H和B分别除以相应的最大值H_max、B_max：

步骤3、对处理后的回线进行线积分，并求取关键点，计算回线间距D；考虑到经过归一化处理后，磁滞回线的横纵坐标范围均在[-1,1]之间，这样在所示平面范围内，任意两点之间的距离最大值为此时评价函数f函数值非负，并且仿真回线与已知回线完全重合时，f取得最大值