[发明专利]微全分析系统及方法

权利要求书

1.一种微全分析系统，包括：

微流控器件，被配置为容纳待检测的液体；

光学单元，被配置为形成照射到所述微流控器件的第一光，

检测单元，被配置为检测所述待检测的液体形成的液滴并输出检测信号以获得检测信息；

其中，所述检测单元包括传感器组，所述传感器组包括电容式传感器；

所述微流控器件包括设置在第一衬底基板上的第一电极和设置在第二衬底基板上的第二电极，所述第二电极与所述第一电极彼此绝缘，所述第一电极和所述第二电极被配置为在第一时间段驱动所述待检测的液体并被配置为在第二时间段将所述第一电极和所述第二电极之间的电容信号输出，所述第一电极和所述第二电极构成所述电容式传感器；

所述第一电极包括彼此绝缘的多个第一子电极；所述多个第一子电极沿行方向和列方向呈阵列排列；

所述第二电极包括彼此绝缘的多个第二子电极，所述多个第二子电极中的每个和一行第一子电极在垂直于所述第一衬底基板的方向上有重叠部分；所述多个第二子电极沿所述列方向排列，所述第二子电极沿所述行方向延伸；

采用封框胶粘结所述第一衬底基板和所述第二衬底基板，使所述第一衬底基板和所述第二衬底基板对盒形成一个盒，所述待检测的液体位于所述盒中；

在所述第一时间段，向所述第二电极输入公共信号，向所述第一电极输入第一驱动信号，所述第一驱动信号的频率大于所述液滴的共振频率并且小于所述微流控器件的充电频率。

2.根据权利要求1所述的微全分析系统，其中，所述微流控器件包括相对设置的第一衬底基板和第二衬底基板，所述检测单元设置在所述第一衬底基板上，所述光学单元设置在所述第二衬底基板上。

3.根据权利要求2所述的微全分析系统，其中，每个第一子电极与第一薄膜晶体管相连，所述待检测的液体设置在所述第一衬底基板和所述第二衬底基板之间。

4.根据权利要求1所述的微全分析系统，其中，所述光学单元包括光源、导光板和光栅，所述光源被配置为发出第二光，所述导光板被配置为传导第二光，所述光栅被配置为将从所述导光板导出的所述第二光调整为第一光，并朝向所述微流控器件出射。

5.根据权利要求4所述的微全分析系统，其中，所述光栅包括第一光栅部和第二光栅部，所述第一光栅部和所述第二光栅部被配置为形成不同特征的第一光，所述特征包括波长、强度至少之一。

6.根据权利要求1所述的微全分析系统，其中，所述传感器组还包括光学传感器，所述光学传感器被配置为检测第三光，所述第三光为所述第一光经过所述待检测的液体后的光。

7.根据权利要求6所述的微全分析系统，其中，所述光学传感器组包括多个第二薄膜晶体管和多个光敏二极管，各光敏二极管分别与各第二薄膜晶体管相连，所述多个第二薄膜晶体管呈阵列排布，同一行第二薄膜晶体管连接至同一条栅线，同一列第二薄膜晶体管连接至同一条数据线。

8.根据权利要求1所述的微全分析系统，其中，每个第一子电极与第一薄膜晶体管相连。

9.根据权利要求1-8任一项所述的微全分析系统，其中，所述传感器组包括至少两种不同类型的传感器，同一类型的传感器包括多个传感器，多个传感器均匀排布。