[发明专利]基于交流阻抗的接触检查方法和装置

说明书

本发明涉及一种基于交流阻抗的接触检查方法和装置，包括控制单元MCU、交流信号源单元、高频变压器、阈值设置单元、测量单元和检测单元；控制单元连接交流信号源单元、阈值设置单元和检测单元；交流信号源单元作为输入连接到高频变压器的原边，高频变压器的副边作为输出连接到测量单元；测量单元连接检测单元，从测量单元中两处拾取电压信号作为检测单元的输入；检测单元将测量单元的输入和阈值设置单元的输入进行比较，检测单元将比较结果送至控制单元MCU。本发明不仅可以对测量端子的测试引线的连接可靠性进行检查，而且可以对被动元器件与仪器测量端子及夹具的连接可靠性进行检查，同时，还能够自动分辨被动元器件的类别。

技术领域

本发明涉及电子测量和仪器仪表领域，尤其是一种应用于被动电子元件电感、电容和电阻进行参数测量过程中的接触可靠性检查方法和装置。

背景技术

电子测量仪器仪表广泛应用于现代化生产和生活的各个领域，测量仪器通过测量端子及夹具与被测元件连接，然后测量仪器才能正常开始发挥测试测量功能。

通常对被动元器件进行测量时采用开尔文四线检测，如图1所示，它采用分离的电流和电压测量线路，相比于两端的传感能够进行更加精确的测量。在现实自动化生产线上采用仪器仪表进行测量和产品规格分选，由于夹具接触不良或者测试引线断线造成仪器测量结果误差，进一步地可能会将合格品判断为不合格品，不合格品判断为合格品，这就会导致产品规格误判。

针对生产实践的需要，“专利CN201120409003”提出了一种用于仪表测试线接触不良检测装置，如图2所示，基于交流频率法旨在检查测试线的通断状况。如图2所示，该方法虽然能够检测HC和HP之间接触可靠与否，也能检查LP与LC之间接触可靠与否；但是并不能检查HC与LC之间接触可靠性。于是，它的缺点是：并不能检查被测件是否与仪器测量端子及夹具之间的连接可靠性。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：提出一种基于交流阻抗的接触检查装置及检查方法，不仅可以对测量端子的测试引线的连接可靠性进行检查，而且可以对被动元器件与仪器测量端子及夹具的连接可靠性进行检查，实现更加全面和有效的连接可靠性检查，同时，还能够自动分辨被动元器件的类别是属于电感、电容或者电阻。

本发明所采用的技术方案为：一种基于交流阻抗的接触检查装置，包括控制单元MCU、交流信号源单元、高频变压器、阈值设置单元、测量单元和检测单元；所述的控制单元连接交流信号源单元、阈值设置单元和检测单元；所述的交流信号源单元作为输入连接到高频变压器的原边，高频变压器的副边作为输出连接到测量单元；所述的测量单元连接检测单元，从测量单元中两处拾取电压信号作为检测单元的输入；所述的检测单元将测量单元的输入和阈值设置单元的输入进行比较，接着，所述的检测单元将比较结果送至控制单元MCU。

进一步的说，本发明所述的阈值设置单元包括阈值产生器单元、隔离放大器单元以及阈值调整单元；所述的控制单元MCU控制阈值产生器单元产生直流电压，隔离放大器单元对直流电压进行放大后，所述阈值调整单元再次对直流电压进行适当的衰减，并将衰减后的直流电压送到比较器单元的同相输入端。

再进一步的说，本发明所述的测量单元包括第一标准组件、第二耦合电容、第二标准组件、第三标准组件、保险丝单元和接触检查部件。

再进一步的说，本发明所述的检测单元包括第一电压采样单元、第二电压采样单元、减法器单元、检波器单元、比较器单元和光耦单元。

再进一步的说，本发明所述控制单元MCU控制交流信号源单元以生成交流正弦波，所述高频变压器将此交流正弦波耦合到测量单元，所述检测单元拾取监测点电压，由减法器单元作减法获取差值电压，再由检波器单元将交流正弦波电压转换为直流电压，将转换后的直流电压送至比较器单元的反相输入端。