[发明专利]海底原位X荧光测量影响监管方法及装置有效

专利信息
申请号: 201710789900.2 申请日: 2017-09-05
公开(公告)号: CN107589130B 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 王广西;葛良全;李丹;赖万昌;胡燕;翟娟;杨强;张庆贤;谷懿;郭成 申请(专利权)人: 成都理工大学
主分类号: G01N23/083 分类号: G01N23/083;G01N23/223
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 苏胜
地址: 610051 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 海底 原位 荧光 测量 影响 监管 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种海底原位X荧光测量影响监管方法,应用于海底原位X荧光测量设备,其特征在于,所述方法包括:

建立蒙特卡罗模型,通过蒙特卡罗模型模拟获得目标元素特征X射线在不含杂质且不同厚度铍窗下的透过率;

根据该透过率并结合铍窗安全性理论分析结果确定铍窗的优选厚度;

通过蒙特卡罗模型模拟分别获得铍窗厚度为所述优选厚度且含杂质,以及铍窗厚度为所述优选厚度且不含杂质时,目标元素特征X射线强度与目标元素含量的关系,并进行对比,得到对比结果;

根据该对比结果判断铍窗含杂质时对目标元素特征X射线强度是否有影响,若有,则对铍窗含杂质时目标元素特征X射线强度进行校正;

所述方法还包括:

通过蒙特卡罗模型模拟分别获得铍窗厚度为0,以及铍窗厚度为所述优选厚度且不含杂质时,目标元素特征X射线强度与目标元素含量的关系,并进行对比,得到对比结果;

根据该对比结果判断铍窗不含杂质时对目标元素特征X射线强度是否有影响,若有,则对铍窗不含杂质时目标元素特征X射线强度进行校正;

根据该对比结果判断铍窗不含杂质时对目标元素特征X射线强度是否有影响的步骤,包括:

根据该对比结果分别获得铍窗厚度为0,以及铍窗厚度为所述优选厚度且不含杂质时,目标元素特征X射线强度与目标元素含量的线性相关系数,并进行对比,得到对比结果;

根据该对比结果判断铍窗不含杂质时对目标元素特征X射线强度是否有影响;

所述铍窗安全性理论分析结果通过以下方式获得:

建立铍窗厚度计算方程:

其中:t为铍窗厚度,单位为mm;P为铍窗所受水的压强,单位为MPa;D为海底探测管内径,单位为mm;ns为安全系数;σs为铍窗的强度极限。

2.根据权利要求1所述的海底原位X荧光测量影响监管方法,其特征在于,根据该对比结果判断铍窗含杂质时对目标元素特征X射线强度是否有影响的步骤,包括:

分别获得目标元素含量相同时,铍窗厚度为所述优选厚度且含杂质,以及铍窗厚度为所述优选厚度且不含杂质时目标元素特征X射线强度,并进行对比,得到对比结果;

根据该对比结果判断铍窗含杂质时对目标元素特征X射线强度是否有影响。

3.根据权利要求1所述的海底原位X荧光测量影响监管方法,其特征在于,对铍窗含杂质时目标元素特征X射线强度进行校正的步骤,包括:

根据所述对比结果建立校正曲线;

根据所述校正曲线对铍窗含杂质时目标元素特征X射线强度进行校正。

4.根据权利要求1所述的海底原位X荧光测量影响监管方法,其特征在于,对铍窗含杂质时目标元素特征X射线强度进行校正的步骤,包括:

根据所述对比结果分别获得目标元素含量相同时,铍窗厚度为所述优选厚度且含杂质时目标元素特征X射线强度,以及铍窗厚度为所述优选厚度且不含杂质时目标元素特征X射线强度的平均相对偏差;

根据所述平均相对偏差对铍窗含杂质时目标元素特征X射线强度进行校正。

5.根据权利要求1所述的海底原位X荧光测量影响监管方法,其特征在于,通过蒙特卡罗模型模拟获得目标元素特征X射线在不含杂质且不同厚度铍窗下的透过率的步骤,包括:

通过蒙特卡罗模型模拟并记录目标元素特征X射线在不含杂质且不同厚度铍窗下的光子通量;

对所述光子通量进行处理,得到目标元素特征X射线在不含杂质且不同厚度铍窗下的透过率。

6.一种海底原位X荧光测量影响监管装置,应用于海底原位X荧光测量设备,其特征在于,所述装置包括:

透过率获取模块,用于建立蒙特卡罗模型,通过蒙特卡罗模型模拟获得目标元素特征X射线在不含杂质且不同厚度铍窗下的透过率;

铍窗优选厚度确定模块,用于根据该透过率并结合铍窗安全性理论分析结果确定铍窗的优选厚度;

第一对比模块,用于通过蒙特卡罗模型模拟分别获得铍窗厚度为所述优选厚度且含杂质,以及铍窗厚度为所述优选厚度且不含杂质时,目标元素特征X射线强度与目标元素含量的关系,并进行对比,得到对比结果;

第一判断模块,用于根据该对比结果判断铍窗含杂质时对目标元素特征X射线强度是否有影响,若有,则对铍窗含杂质时目标元素特征X射线强度进行校正;

所述装置还包括:

第二对比模块,用于通过蒙特卡罗模型模拟分别获得铍窗厚度为0,以及铍窗厚度为所述优选厚度且不含杂质时,目标元素特征X射线强度与目标元素含量的关系,并进行对比,得到对比结果;

第二判断模块,用于根据该对比结果分别获得铍窗厚度为0,以及铍窗厚度为所述优选厚度且不含杂质时,目标元素特征X射线强度与目标元素含量的线性相关系数,并进行对比,得到对比结果;

根据该对比结果判断铍窗不含杂质时对目标元素特征X射线强度是否有影响,若有,则对铍窗不含杂质时目标元素特征X射线强度进行校正;

所述铍窗安全性理论分析结果通过以下方式获得:

建立铍窗厚度计算方程:

其中:t为铍窗厚度,单位为mm;P为铍窗所受水的压强,单位为MPa;D为海底探测管内径,单位为mm;ns为安全系数;σs为铍窗的强度极限。

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