[发明专利]真空环境下胶黏剂出气污染物平均解析化学能的确定方法有效
申请号: | 201710788313.1 | 申请日: | 2017-09-05 |
公开(公告)号: | CN107703258B | 公开(公告)日: | 2020-01-10 |
发明(设计)人: | 乔佳;郭兴;薛玉雄;杨生胜;庄建宏;黄一凡;石红;张剑锋 | 申请(专利权)人: | 兰州空间技术物理研究所 |
主分类号: | G01N33/00 | 分类号: | G01N33/00 |
代理公司: | 11120 北京理工大学专利中心 | 代理人: | 温子云;仇蕾安 |
地址: | 730000 甘*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 真空 环境 下胶黏剂 出气 污染物 平均 解析 化学能 确定 方法 | ||
1.一种真空环境下胶黏剂出气污染物平均解析化学能的确定方法,其特征在于,包括:
步骤1、根据扩散理论以及吸附动力学微分方程,建立胶黏剂出气污染物在低温敏感表面的沉积模型md=f(E,D,C0,t);其中,md为污染分子在时间t的沉积量,D为扩散系数,C0为出气初始浓度,E为所需求取的平均解析化学能;所述沉积模型为:
其中,d为试验时作为样品的胶黏剂材料平均厚度,FB为试验用出气设备的视角因子,τ0为污染分子在敏感表面的平均振动时间,T为敏感表面温度,R为普适气体常数,σ为污染分子碰撞敏感表面的反射系数;
步骤2、采用出气设备针对相同的胶黏剂样品材料进行出气试验,获得不同出气单元温度和不同敏感表面温度下,md随t变化的试验曲线md=f(t);
步骤3、利用步骤2获得的多组试验曲线,求取满足试验曲线的沉积模型参数,参数中的E即为所需的平均解析化学能,每个敏感表面温度对应一个平均解析化学能E。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤3为:
步骤31、选取敏感表面温度为T1和T2、出气单位温度为Tc1和Tc2的四条试验曲线;
步骤32、取T1、Tc1对应的试验曲线,拟合沉积模型参数,记为E1、D1、C01;
步骤33、取T2、Tc1对应的试验曲线,将D1、C01代入沉积模型,拟合沉积模型参数中的平均解析化学能E,记为E2;
步骤34、取T1、Tc2对应的试验曲线,将E1代入沉积模型,拟合沉积模型参数中的扩散系数D和出气初始浓度C0,记为D2、C02;步骤33和步骤34不分先后;
步骤35、取T2、Tc2对应的试验曲线,与参数E2、D2、C02所确定的沉积模型曲线进行对比,如果相似度达到要求,则执行步骤36,否则重新选取试验曲线重复本步骤3的处理;
步骤36、将E1和E2分别确定为温度T1和温度T2情况下胶黏剂样品材料对应的平均解析化学能。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤35所述相似度的判定采用置信度。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤2中不同试验取相同厚度的胶黏剂样品材料。
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