[发明专利]超强超短激光脉冲远场脉宽的单发测量装置和测量方法

权利要求书

1.一种超强超短激光脉冲远场脉宽的单发测量装置，其特征在于该装置包括：沿待测超强超短激光脉冲入射方向依次放置的凹面镜(1)、凸面镜(2)、柱面镜(3)、第一反射镜(4)、延迟线(5)、第二反射镜(6)、二阶自相关仪(7)和示波器(8)，所述的凹面镜(1)和凸面镜(2)组成反射式缩束系统，所述的柱面镜(3)是在竖直方向上形成一维聚焦的凹圆柱面的长焦距的柱面镜，所述的延迟线(5)置于一高精度平移台上，所述的待测超强超短激光脉冲首先由所述的反射式缩束系统缩束，再经所述的柱面镜(3)在竖直方向上形成一维聚焦光束，该聚焦光束依次通过所述的第一反射镜(4)、延迟线(5)、第二反射镜(6)，最后垂直射入所述的二阶自相关仪(7)，且一维聚焦光束的一维焦线落在所述的二阶自相关仪(7)的倍频晶体上，所述的二阶自相关仪(7)的输出端与所述的示波器(8)的输入端相连。

2.利用权利要求1所述的超强超短激光脉冲远场脉宽的单发测量装置进行超强超短激光脉冲远场脉宽的单发测量方法，其特征在于，该方法包括下列步骤：

①所述的超强超短激光脉冲远场脉宽的单发测量装置安装后，待测超强超短激光脉冲输入，调节所述的反射式缩束系统，使待测超强超短激光脉冲缩束后准直输出，且缩束后的光束口径小于二阶自相关仪(7)中倍频晶体的有效尺寸；

②调整所述的柱面镜(3)，使缩束后的光束在竖直方向上形成一维聚焦光束；

③调节第一反射镜(4)，使所述的一维聚焦光束垂直射入所述的延迟线(5)；

④调节第二反射镜(6)，使从所述的延迟线(5)出射的一维聚焦光束垂直射入所述的二阶自相关仪(7)；

⑤调节所述的高精度平移台，使从所述的延迟线(5)输出的一维聚焦光束的一维焦线正好落在所述的二阶自相关仪(7)的倍频晶体上；

⑥利用所述的二阶自相关仪(7)测量所述的一维焦线的脉宽，即待测脉冲的远场脉宽，并通过所述的示波器(8)记录。