[发明专利]用于炉渣样本收集的浸没装置有效
申请号: | 201710785648.8 | 申请日: | 2017-09-04 |
公开(公告)号: | CN107817127B | 公开(公告)日: | 2020-11-06 |
发明(设计)人: | 德里·拜恩斯;保罗·A·特纳 | 申请(专利权)人: | 贺利氏电子耐特国际股份公司 |
主分类号: | G01N1/10 | 分类号: | G01N1/10;G01N33/205;C21C5/46 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 顾红霞;张芸 |
地址: | 比利时*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 炉渣 样本 收集 浸没 装置 | ||
1.一种用于收集炉渣样本且测量熔融金属参数的浸没装置(10、20),其中所述浸没装置(10、20)包括用于将熔融炉渣(18)引导到炉渣样本腔室(7、27)的流入导管(5、25)以及用于测量熔融金属(19)的参数的测量元件(1、21),其中所述流入导管(5、25)包括外部部分和内部部分,其中所述流入导管(5、25)和所述测量元件(1、21)均布置于测量头部(2、22)的浸没端的顶部区域中且均面朝浸没方向(17),其中所述浸没装置(10、20)被构造成使得在所述浸没方向(17)上进入所述熔融炉渣(18)且然后进入所述熔融金属(19)的浸没期间,所述熔融炉渣(18)进入所述流入导管(5、25)的所述外部部分且通过所述流入导管(5、25)的所述内部部分被引导到所述炉渣样本腔室(7、27),其中所述流入导管(5、25)被构造成使得所述流入导管(5、25)可抵抗熔融炉渣(18)但在暴露于所述熔融金属(19)后熔化。
2.根据权利要求1所述的浸没装置(10、20),其特征在于所述流入导管(5、25)的所述外部部分是立式的。
3.根据权利要求1所述的浸没装置(10、20),其特征在于,还包括用于覆盖所述浸没装置(10、20)的所述顶部区域的测量头部盖(4、24),其中所述测量头部盖(4、24)被构造成使得所述测量头部盖(4、24)可抵抗熔融炉渣(18)但在暴露于所述熔融金属(19)后熔化。
4.根据权利要求3所述的浸没装置(10、20),其特征在于所述测量头部盖(4、24)的盖开口(9、29)被设计成使得熔融炉渣(18)可通过所述盖开口(9、29)流入所述流入导管(5、25)。
5.根据权利要求3所述的浸没装置(10、20),其特征在于所述测量头部盖(4、24)在浸没方向(17)上与所述流入导管(5、25)齐平或者在浸没方向(17)上覆盖所述流入导管(5、25)。
6.根据权利要求1所述的浸没装置(10、20),其特征在于所述流入导管(5、25)具有在浸没方向(17)上定向的流入开口。
7.根据权利要求1所述的浸没装置(10、20),其特征在于,还包括用于嵌入所述流入导管(5 、25)的所述内部部分和/或所述炉渣样本腔室(7、27)的外壳(16、36)。
8.根据权利要求7所述的浸没装置(10、20),其特征在于所述流入导管(5、25)的所述外部部分在浸没之前由在浸没方向(17)上来自所述外壳(15)的气体包围。
9.根据权利要求1所述的浸没装置(10、20),其特征在于所述流入导管(5、25) 和所述测量元件(1、21)在浸没方向(17)上紧靠彼此而布置。
10.根据权利要求1所述的浸没装置(10、20),其特征在于所述流入导管(5、25)具有所述浸没装置(10、20)的最大外径的至少15%的直径。
11.根据权利要求1所述的浸没装置(10、20),其特征在于所述流入导管(5、25)具有所述炉渣样本腔室(7、27)的内部体积的至少10%和/或至多100%的内部体积。
12.根据权利要求1所述的浸没装置(10、20),其特征在于通风通道(13、33)与所述炉渣样本腔室(7、27)成气体连通。
13.根据权利要求1所述的浸没装置(10、20),其特征在于,还包括用以固持测量头部(2、22)的载体管(3、23)或作为载体管(3、23)的硬纸管,所述测量头部(2、22)包括所述炉渣样本腔室(7、27)、所述流入导管(5、25)以及所述测量元件(1、21)。
14.一种用于收集炉渣样本且测量熔融金属参数的方法,其中根据权利要求1至13中任一项所述的浸没装置(10、20)在浸没方向(17)上通过熔融炉渣(18)的层浸没到熔融金属(19)中,其中在通过所述熔融炉渣(18)的层的浸没期间,熔融炉渣(18)流入到流入导管(5、25)中,所述流入导管面对浸没方向(17)且将所述熔融炉渣(18)引导到炉渣样本腔室(7、27),其中在到达所述熔融金属(19)的时刻,测量头部盖(4、24)和所述流入导管(5、25)以及还有覆盖而且也面对浸没方向(17)的测量元件(1、21)的盖(12、32)熔化,使得所述测量元件(1、21)暴露于所述熔融金属(19)以进行所述熔融金属参数的测量。
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