[发明专利]一种基于氮化硼/硫化钼/氮化硼三明治结构作为阻变功能层的阻变存储器在审

专利信息
申请号: 201710783863.4 申请日: 2017-09-04
公开(公告)号: CN107464876A 公开(公告)日: 2017-12-12
发明(设计)人: 张楷亮;魏俊青;王芳;李毅;张志超;吴仕剑 申请(专利权)人: 天津理工大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 天津耀达律师事务所12223 代理人: 张耀
地址: 300384 *** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 氮化 硫化 三明治 结构 作为 功能 存储器
【权利要求书】:

1.一种基于氮化硼/硫化钼/氮化硼三明治结构作为阻变功能层的阻变存储器,其特征在于:其中阻变层为氮化硼/硫化钼/氮化硼构成的三明治结构,其中上、下氮化硼层为同种方法、相同条件下制备的氮化硼薄膜,中间层硫化钼作为插层材料插入到两层氮化硼中间,形成一种上下对称结构。

2.根据权利要求1所述的基于氮化硼/硫化钼/氮化硼三明治结构作为阻变功能层的阻变存储器,其特征在于:所述三明治结构中上层和下层的氮化硼的厚度为1-50nm。

3.根据权利要求1所述的基于氮化硼/硫化钼/氮化硼三明治结构作为阻变功能层的阻变存储器,其特征在于:所述三明治结构中硫化钼插层的厚度为0.75-10nm。

4.根据权利要求1所述的基于氮化硼/硫化钼/氮化硼三明治结构作为阻变功能层的阻变存储器,其特征在于:所述上、下电极为电学性质活泼的金属铜、银、铝、镍中的一种。

5.根据权利要求1所述的基于氮化硼/硫化钼/氮化硼三明治结构作为阻变功能层的阻变存储器,其特征在于:所述的硫化钼薄膜采用离子束溅射与化学气相沉积法共制备,制备方法如下:

1)以Si片为衬底,利用热氧化方法制备300nm的SiO2绝缘层;

2)在SiO2绝缘层上采用离子束溅射方法沉积金属Mo膜,其厚度为1-20nm;

3)在真空管式炉中对Mo膜进行硫化,最终生成硫化钼薄膜;

4)采用湿法转移的方式,将硫化钼薄膜转移到底层BN薄膜上。

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