[发明专利]显影装置及其显影方法有效

专利信息
申请号: 201710780192.6 申请日: 2017-09-01
公开(公告)号: CN107479339B 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: 吴克芳;周伟;徐加荣;李允伟;王朝磙;王震宇;陈远丹 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方显示技术有限公司
主分类号: G03F7/30 分类号: G03F7/30
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 姜春咸;陈源
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 显影 装置 及其 方法
【说明书】:

发明提供一种显影装置,包括显影机构,所述显影机构用于对基板进行显影,所述显影装置还包括加热机构,所述加热机构包括多个加热单元,每个加热单元对应所述基板上的至少一个显影区域,不同加热单元所对应的显影区域不同,且多个所述加热单元能够分别独立控制。相应地,本发明还提供一种利用所述显影装置的显影方法。本发明能够使得基板上各显影区域的均一性提高。

技术领域

本发明涉及显示产品的制作领域,具体涉及一种显影装置及其显影方法。

背景技术

光刻构图工艺是阵列基板上形成图形时常用的工艺,以利用光刻构图工艺制作像素电极的图形为例,包括:依次沉积导电材料层和光刻胶层;对光刻胶进行曝光;对曝光后的光刻胶进行显影,以保留像素电极区的光刻胶、去除其他位置的光刻胶;对未被光刻胶覆盖的导电材料层进行刻蚀;去除剩余的光刻胶。在实际生产中,由于工艺条件的限制,导致在对基板上的光刻胶显影时,会出现不同区域显影速度不一致,从而导致最终形成的图形的关键尺寸不一致,进而影响产品质量。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提出了一种显影装置及其显影方法,以提高显影速度的均一性。

为了解决上述技术问题之一,本发明提供一种显影装置,包括显影机构,所述显影机构用于对基板进行显影,所述显影装置还包括加热机构,所述加热机构包括多个加热单元,每个加热单元对应所述基板上的至少一个显影区域,不同加热单元所对应的显影区域不同,且多个所述加热单元能够分别独立控制。

优选地,所述显影装置还包括:

控制机构,用于根据所述基板上的异常区域的位置,开启能够加热该异常区域的加热单元;所述异常区域为未加热情况下,显影后保留的图形尺寸大于目标尺寸的区域。

优选地,所述显影机构包括传输组件和显影液输出组件,所述传输组件用于传输所述基板;所述显影液输出组件包括显影液输出口,该显影液输出口设置在所述传输组件上方,以向所述传输组件上的基板喷洒显影液;

所述加热机构位于所述传输组件上方,且位于所述显影液输出口的沿基板传输方向的一侧。

优选地,所述控制机构包括:

加热时间获取模块,用于根据预设的映射关系获取目标加热时间,所述映射关系为基板上多个显影区域显影后保留的图形尺寸的离散度与该基板上异常区域的加热时间之间的映射关系,所述目标加热时间为最小离散度对应的加热时间;

加热时间控制模块,用于根据所述目标加热时间控制加热单元对所述异常区域进行加热的时间。

优选地,多个所述加热单元沿与基板传输方向相交叉的方向排列,每个加热单元包括沿所述基板传输方向排列的多个加热件;

所述加热时间控制模块包括:

计算单元,用于根据所述目标加热时间、所述基板的传输速度和每个加热件在所述基板上的加热宽度,计算用于加热所述异常区域的加热件的目标数量;其中,所述加热宽度为所述加热件在基板上的加热区域沿所述基板传输方向的尺寸;

目标确定单元,用于在所述异常区域能够经过的加热单元中,选择所述目标数量的加热件作为目标加热件。

优选地,所述计算单元还能够根据基板的传输速度、所述基板处于初始位置时所述异常区域到每个目标加热件的距离,计算每个目标加热件的开启时间;并根据所述异常区域沿所述基板传输方向的尺寸计算每个目标加热件的关闭时间;

所述加热时间控制模块还包括开关控制单元,该开关控制单元用于根据每个目标加热件的开启时间控制相应的目标加热件开启;并根据每个目标加热件关闭时间控制相应的目标加热件关闭。

优选地,所述初始位置位于所述显影液输出口的逆向于基板传输方向的一侧,

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