[发明专利]一种航空摆扫式多光谱扫描仪图像的系统级相对辐射校正方法在审
申请号: | 201710779912.7 | 申请日: | 2017-09-01 |
公开(公告)号: | CN107633487A | 公开(公告)日: | 2018-01-26 |
发明(设计)人: | 刘晓波;李金龙 | 申请(专利权)人: | 天津津航技术物理研究所 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 中国兵器工业集团公司专利中心11011 | 代理人: | 祁恒 |
地址: | 300308 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 航空 摆扫式多 光谱 扫描仪 图像 系统 相对 辐射 校正 方法 | ||
1.一种航空摆扫式多光谱扫描仪图像的系统级相对辐射校正方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:
S1、起飞前,在地面对扫描仪进行现场坏像元替换;起飞后,利用机上实时定标数据,对所述扫描仪采集到的多条带摆扫图像数据进行机上实时相对辐射校正,并将经过实时相对辐射校正的所述图像数据作为原始图像数据进行存储;
S2、根据高低温辐射定标图像数据,计算各图像条带内的实时相对辐射校正系数,对所述高低温辐射定标图像数据进行自身图像条带内的相对辐射校正,得到经过相对辐射校正的高低温辐射定标图像数据;
S3、利用经过相对辐射校正后的高低温辐射定标图像数据,计算不同摆扫条带间的系统级相对辐射校正系数,对多条带摆扫的所述原始图像数据进行系统级相对辐射校正。
2.如权利要求1所述的系统级相对辐射校正方法,其特征在于,所述方法进一步包括:
S4、对经过所述系统级相对辐射校正之后的图像中残余的条纹,采用基于场景的非均匀校正法进行去条纹处理,并对处理后的图像进行灰度拉伸和直方图均衡处理,以达到最利于目视解译的状态效果。
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