[发明专利]一种自动检测OTP漏烧录的液晶显示屏电测治具及其测试方法有效
申请号: | 201710776089.4 | 申请日: | 2017-08-31 |
公开(公告)号: | CN109426015B | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | 陈春荣;李华星;欧木兰;李仲儒 | 申请(专利权)人: | 深圳市国显科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G09G3/00 |
代理公司: | 深圳市千纳专利代理有限公司 44218 | 代理人: | 胡坚 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 自动检测 otp 漏烧录 液晶显示屏 电测治具 及其 测试 方法 | ||
本发明是一种自动检测OTP漏烧录的液晶显示屏电测治具,所述的电测治具包括FPGA主板、液晶显示屏、MCU和报警装置,所述FPGA主板的信号传送给液晶显示屏并通过液晶显示屏显示出来;所述液晶显示屏设有源极IC,所述液晶显示屏通过源极IC将信号传送给MCU,所述的MCU将接收到的信号反馈至FPGA主板和报警装置,平板显示技术领域。目的是提供一款能够有效的拦截OTP漏烧或误烧的产品,提高出货产品的品质,减少退货的风险的电测治具及其测试方法。
技术领域
本发明涉及平板显示技术,特别是一种自动检测OTP漏烧录的液晶显示屏电测治具及其测试方法。
背景技术
液晶显示屏应用越来越广泛,各行各业已经开始普及应用,液晶显示屏应用领域广就在于它的比CRT轻薄方便。从各方面对液晶显示屏进行显示效果的优化是整个行业的趋势。其中一个重要的技术就是一次烧录技术,称为OTP,即在液晶显示屏出厂前通过调节源极IC的寄存器而调整共通电极的电压值,然后进行固化,使液晶显示屏的效果达到最佳。
目前行业通用的液晶显示屏电测治具,是通过信号产生主板产生的信号点亮液晶显示屏进行电测,主板和屏之间没有双向沟通的功能,即主板无法判定液晶显示屏OTP烧录是否正常,经常会将漏烧录或误烧的产品出货到客户端造成退货。
发明内容
本发明的目的是在于解决上述现有的技术的不足,而提供一种自动检测OTP漏烧录的液晶显示屏电测治具及其测试方法。
一种自动检测OTP漏烧录的液晶显示屏电测治具,所述的电测治具包括FPGA主板、液晶显示屏、MCU和报警装置,所述FPGA主板的信号传送给液晶显示屏并通过液晶显示屏显示出来;所述液晶显示屏设有源极IC,所述液晶显示屏通过源极IC将信号传送给MCU,所述的MCU将接收到的信号反馈至FPGA主板和报警装置。
一种采用如权利要求1中所述的自动检测OTP漏烧录的液晶显示屏电测治具的测试方法,所述的方法步骤为:
1、打开电测治具的电源开机,MCU和液晶显示屏通讯,读取源极IC的OTP寄存器值;
2、 MCU根据回读的数值判定OTP烧录结果。如果正常,MCU向FPGA发送正常测试指令,FPGA主板接收到指令后向液晶显示屏发送正常的测试画面信号,电测正常进行;如果MCU判定异常,则向FPGA主板发送异常测试指令,FPGA接收到指令后项液晶显示屏发送异常测试画面信号,测试终止,同时MCU发指令打开蜂鸣器开关,使蜂鸣器响起报警;
3、将烧录异常的产品进行再次的OTP烧录,重复步骤1和步骤2,直至所测试的产品为良品。
采用上述技术方案的有益效果是:本发明专利采用FPGA主板作为信号发生器,MCU读液晶显示屏源极IC并做成判定,能够有效的拦截OTP漏烧或误烧的产品,提高出货产品的品质,减少退货的风险。
附图说明
图1为本发明的结构示意图;
图2为本发明的测试流程图。
具体实施方式
以下结合附图和本发明优选的具体实施例对本发明的内容作进一步地说明。所举实例只用于解释本发明,并非用于限定本发明的范围。
如图1至2中所示,本方案中所述的一种自动检测OTP漏烧录的液晶显示屏电测治具,所述的电测治具包括FPGA主板、液晶显示屏、MCU和报警装置,所述FPGA主板的信号传送给液晶显示屏并通过液晶显示屏显示出来;所述液晶显示屏设有源极IC,所述液晶显示屏通过源极IC将信号传送给MCU,所述的MCU将接收到的信号反馈至FPGA主板和报警装置。
一种采用上述的自动检测OTP漏烧录的液晶显示屏电测治具的测试方法,所述的方法步骤为:
1、打开电测治具的电源开机,MCU和液晶显示屏通讯,读取源极IC的OTP寄存器值;
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