[发明专利]一种内存测试方法、装置及系统

说明书

本发明实施例提供一种内存测试方法、装置及系统，包括获取磁盘阵列的类型；根据所述磁盘阵列的类型，确定磁盘阵列的读写规则；根据所述读写规则，读写所述磁盘阵列，所述磁盘阵列在读写过程中通过待测试内存缓存读写数据。通过对磁盘阵列的读写操作间接实现对内存的压力测试，而且磁盘阵列中由多块硬盘构建而成，具有很高的冗余性，防止系统宕机，有效保证了压力测试的顺利进行。

技术领域

本发明涉及计算机测试技术领域，特别是涉及一种内存测试方法、装置及系统。

背景技术

内存是计算机中重要部件，负责缓存处理器或硬盘数据信息。对内存进行压力测试，是验证内存质量，进而保证计算机正常运行的关键。

目前，为了对内存进行压力测试，通常在计算机上运行内存测试工具，通过处理器高计算量占用系统内存，实现对内存的压力测试。然而，发明人通过研究发现，在执行内存压力测试的过程中，处理器的负载过高很容易导致系统宕机，从而导致内存压力测试无法顺利进行。

因此，如何提供一种测试方法对内存压力进行测试，是本领域技术人员亟需解决的技术问题。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种内存测试方法、装置及系统以解决现有技术中内存压力测试的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，根据本发明的第一方面，本发明实施例提供一种内存测试方法，该方法包括以下步骤：

获取磁盘阵列的类型；

根据所述磁盘阵列的类型，确定磁盘阵列的读写规则；

根据所述读写规则，读写所述磁盘阵列，所述磁盘阵列在读写过程中通过待测试内存缓存读写数据。

可选地，所述根据所述磁盘阵列的类型，确定磁盘阵列的读写规则，包括：

当所述磁盘阵列的类型包括RAID5、RAID6、RAID50和RAID60时，确定对磁盘阵列进行读操作；

所述根据所述读写规则，读写所述磁盘阵列，包括：

对所述磁盘阵列进行读操作。

可选地，所述根据所述磁盘阵列的类型，确定磁盘阵列的读写规则，包括：

当所述磁盘阵列的类型包括RAID0、RAID1、RAID00和RAID10时，确定对磁盘阵列进行写操作；

所述根据所述读写规则，读写所述磁盘阵列，包括：

对所述磁盘阵列进行写操作。

可选地，对所述磁盘阵列进行读操作，包括：

从磁盘阵列的连续的存储空间中，依次读取第一区块集合所对应大小的数据；

和/或，

从磁盘阵列的随机的存储空间中，依次读取第一区块集合所对应大小的数据；

其中，所述第一区块集合包括多个按照大小顺序排列的区块参数，或者，所述第一区块集合包括多个随机排列的区块参数；所述第一区块集合的区块参数用于描述读取数据的大小。

根据权利要求3所述的内存测试方法，其特征在于，对所述磁盘阵列进行写操作，包括：

向磁盘阵列的连续的存储空间，依次写入第二区块集合所对应大小的数据；

和/或，

向磁盘阵列的随机的存储空间，依次写入第二区块集合所对应大小的数据；

其中，所述第二区块集合包括多个按照大小顺序排列的区块参数，或者，所述第一区块集合包括多个随机排列的区块参数，所述第二区块集合中的区块参数用于描述写入数据的大小。