[发明专利]一种基于动态故障树的电磁兼容故障诊断分析方法

说明书

本发明涉及一种基于动态故障树的电磁兼容故障诊断分析方法，其特征是：至少包括如下步骤：步骤101：分析系统的组成及特性；按照工作特性将系统内各电子设备分为无线用频设备、一般有线信息设备、驱动执行设备；确定无线用频设备、一般有线信息设备、驱动执行设备的电磁发射特性及电磁敏感特性，为建立动态故障树模型做准备；步骤102：根据步骤101的结果，建立动态故障树模型；步骤103：获取实时故障参数，动态修正模型参数；步骤104：计算最小割集干扰概率并确定故障源头，完成诊断。本发明实现分析模型和测试数据的双向修正，从而能够快速准确地完成现场干扰源定位，解决复杂系统电磁兼容现场测试的故障诊断问题。

技术领域

本发明属于系统级电磁兼容故障诊断领域，特别是一种基于动态故障树的电磁兼容故障诊断分析方法。

背景技术

随着电子信息技术的发展，电子系统中的电子设备数目急剧增加，类型趋于复杂化。电子设备所使用的频段从窄带向宽带发展，同时电子设备上的电子元器件也趋于小型化。这就导致了一方面，电力网络、用电设备及系统产生的电磁干扰问题十分突出，设备所处的电磁环境也越来越复杂；一方面设备精密度的提高，对于电磁骚扰却更加敏感。近十年内，由电磁兼容问题而引起的设备故障指数级增加。

对于大型系统的现场故障诊断受到电磁兼容问题的复杂性及工程性限制，往往会出现以下问题：

(1)系统及平台设备种类繁多；随着电子信息化的不断发展，各个系统或平台不再是几个单一设备的固定装载，开始具有更多的组合类型。在实际故障诊断中，无法单纯依靠经验来判断设备可能的故障原因，需要更有指导意义的诊断技术；

(2)干扰耦合途径复杂多变；对故障原因的确定及定位，不能采用基于影响因素分别独立的传统排除方法分析，需要更具有关联性和动态性的分析方法；

(3)测试及诊断时间较为漫长；电磁兼容的特殊性要求在测试过程中被测频带完整及采样频点丰富，从而导致测试时间难以缩减。如完成一次RE102电场辐射发射特性测试至少需要30分钟，若无法快速排查故障源头，则需要对不同设备做多次测试来寻找干扰超标频段，这将会消耗大量时间。

发明内容

本发明的目的是提供一种基于动态故障树的电磁兼容故障诊断分析方法，以便实现分析模型和测试数据的双向修正，从而能够快速准确地完成现场干扰源定位，解决复杂系统电磁兼容现场测试的故障诊断问题。

本发明的目的是这样实现的：一种基于动态故障树的电磁兼容故障诊断分析方法，其特征是：至少包括如下步骤：

步骤101：分析系统的组成及特性；按照工作特性将系统内各电子设备分为无线用频设备、一般有线信息设备、驱动执行设备；确定无线用频设备、一般有线信息设备、驱动执行设备的电磁发射特性及电磁敏感特性，为建立动态故障树模型做准备；

步骤102：根据步骤101的结果，建立动态故障树模型；

步骤103：获取实时故障参数，动态修正模型参数；

步骤104：计算最小割集干扰概率并确定故障源头，完成诊断。

所述的步骤102包括：

步骤201：建立基本故障树模型，基于系统的设备组成，将故障设备的受扰作为顶事件，其他潜在干扰设备作为二层节点，针对每个潜在干扰设备建立相对独立的设备故障子树；依据顶事件与二层节点的关系，组建基本故障树模型；

所述的设备故障子树指的是，通过分析该潜在设备可能产生的电磁发射对故障设备的所有耦合途径，进而依据电磁兼容三要素原理，将各因素映射为可能导致顶事件发生的底事件，形成故障子树；

所述的依据顶事件与二层节点的关系指的是，分析二层节点中各干扰设备导致顶事件发生的必然关系、并列关系、互斥关系，分别对应二层节点对顶事件综合作用的“或门”、“与门”或“异或门”模型；