[发明专利]邻近传感器及其检测方法有效
申请号: | 201710769680.7 | 申请日: | 2017-08-31 |
公开(公告)号: | CN109213358B | 公开(公告)日: | 2021-11-02 |
发明(设计)人: | 罗智烜 | 申请(专利权)人: | 联阳半导体股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/041 | 分类号: | G06F3/041;G06F3/044 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王珊珊 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 邻近 传感器 及其 检测 方法 | ||
1.一种邻近传感器,其特征在于,包括:
感测电极;
检测电路,用以检测所述感测电极的电容值;
多个轨迹,耦接于所述感测电极与所述检测电路之间;以及
运算逻辑电路,耦接所述检测电路,于检测期间计算所述感测电极的电容值变化,以依序产生多个电容变化值,并且依据所述多个电容变化值提供触发报告信号,其中各个所述电容变化值对应所述多个轨迹的其中之一,
其中所述运算逻辑电路于初始化期间将所述检测电路所检测到的多个电容值作为多个电容基准值,并且于所述检测期间将所述检测电路所检测到的多个电容值与对应的电容基准值之间的多个差值作为所述多个电容变化值,其中各个所述电容基准值对应所述多个轨迹的其中之一,
其中当所述多个电容变化值都大于对应的电容临界值时,所述运算逻辑电路加总所述多个电容变化值以取得电容总和,比较所述电容总和与报告临界值,在所述电容总和大于所述报告临界值时进行计数以提供计数值,并且依据所述计数值设定所述触发报告信号。
2.如权利要求1所述的邻近传感器,其中所述检测电路包括多个电容检测器,各个所述电容检测器通过所述多个轨迹的其中之一耦接至所述感测电极,并且所述电容检测器依序检测及提供所述感测电极的电容值。
3.如权利要求2所述的邻近传感器,其中所述电容检测器逐一启动。
4.如权利要求1所述的邻近传感器,其中所述检测电路包括:
多路复用器,具有耦接所述轨迹的多个第一端及第二端,其中所述第二端依序耦接所述多个第一端;以及
电容检测器,耦接所述第二端,用以提供所述感测电极的电容值。
5.如权利要求4所述的邻近传感器,其中所述多路复用器逐一耦接所述第二端至所述多个第一端的其中之一。
6.如权利要求1所述的邻近传感器,还包括具有所述检测电路及所述运算逻辑电路的集成电路,并且所述检测电路通过所述集成电路的多个检测焊垫耦接至所述多个轨迹。
7.如权利要求6所述的邻近传感器,其中所述多个检测焊垫为紧邻的检测焊垫。
8.如权利要求1所述的邻近传感器,其中当所述计数值大于去抖动次数时,致能所述触发报告信号,当所述计数值小于等于所述去抖动次数时,禁能所述触发报告信号。
9.如权利要求1所述的邻近传感器,其中当所述电容总和大于所述报告临界值时,所述计数值加一,当所述电容总和小于等于所述报告临界值时,重置所述计数值。
10.一种邻近传感器的检测方法,其特征在于,包括:
通过多个轨迹耦接于感测电极与检测电路;
通过所述检测电路检测所述感测电极的电容值;
于检测期间,通过运算逻辑电路计算所述感测电极的电容值变化,以依序提供多个电容变化值,其中各个所述电容变化值对应所述多个轨迹的其中之一;以及
通过所述运算逻辑电路且依据所述多个电容变化值提供触发报告信号,
其中依序提供所述多个电容变化值的步骤包括:通过所述运算逻辑电路于初始化期间将所述检测电路所检测到的多个电容值作为多个电容基准值;以及通过所述运算逻辑电路于所述检测期间将所述检测电路所检测到的多个电容值与对应的电容基准值之间的多个差值作为所述多个电容变化值,其中各个所述电容基准值对应所述多个轨迹的其中之一,
其中依据所述多个电容变化值提供所述触发报告信号的步骤包括:
通过所述运算逻辑电路比较所述多个电容变化值与对应的电容临界值;
当所述多个电容变化值都大于对应的电容临界值时,通过所述运算逻辑电路加总所述多个电容变化值以取得一电容总和;
通过所述运算逻辑电路比较所述电容总和与报告临界值;
在所述电容总和大于所述报告临界值时进行计数以提供计数值;以及
通过所述运算逻辑电路且依据所述计数值设定所述触发报告信号。
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