[发明专利]用于主机运行过程的故障处理方法及装置有效
申请号: | 201710769123.5 | 申请日: | 2017-08-31 |
公开(公告)号: | CN107590009B | 公开(公告)日: | 2020-12-01 |
发明(设计)人: | 汪旭 | 申请(专利权)人: | 深圳市恒扬数据股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/07 | 分类号: | G06F11/07 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 主机 运行 过程 故障 处理 方法 装置 | ||
本发明属于单片机技术领域,尤其涉及用于主机运行过程的故障处理方法及装置,包括:将运行过程分为多个逻辑阶段,并为各个逻辑阶段设定预期执行时间以及为各个逻辑阶段执行故障设定对应的异常标记;若当所述逻辑阶段执行完毕且成功返回执行结果时,该逻辑阶段的实际执行时间小于所述预期执行时间,则清除该逻辑阶段对应的所述异常标记并执行下一逻辑阶段;若所述逻辑阶段的实际执行时间等于或大于所述预期执行时间,或出现执行故障,则中断执行该运行过程并外发该逻辑阶段对应的所述异常标记,清除CMOS内存储的数据并重启,且具有基于统计和分析的板卡主动修复能力,方便了工程师修复程序的便捷性。
技术领域
本发明属于单片机技术领域,尤其涉及用于主机运行过程的故障处理方法及装置。
背景技术
经统计在X86板卡的生命周期内,有百分之一的概率出现不显示、开机不停重启或死机等各类故障,当前处理这些故障的方法是通过手动短接板卡上的 CLR_CMOS跳帽来解决。可以理解地,在短接CLR_CMOS跳帽后,互补金属氧化物半导体(Complementary MetalOxide Semiconductor,CMOS)内存储的出厂后写入的数据将会被清除,因而在重启板卡后一些板卡故障也会随之消除。
然而由于当前清除CMOS的动作都是通过手动的方式来进行,因此需要进行很多手动操作步骤,例如:移除交流配适器、拆除板卡内部电池、短接CLR_CMOS 跳帽等步骤,因此操作流程非常的繁琐。除此之外,当前的手动清除CMOS的操作无法对程序中的故障位置进行较为准确的定位,不利于后续对于程序的修复。由此可见,当前的用于主机运行过程的故障处理方法存在步骤繁琐,自动化程度低的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供了用于主机运行过程的故障处理方法及装置,以解决现有用于主机运行过程的故障处理方法存在的自动化程度低的问题。
本发明实施例的第一方面提供了一种用于主机运行过程的故障处理方法,包括:将运行过程分为多个逻辑阶段,并为各个逻辑阶段设定预期执行时间以及为各个逻辑阶段执行故障设定对应的异常标记;若当所述逻辑阶段执行完毕且成功返回执行结果时,该逻辑阶段的实际执行时间小于所述预期执行时间,则清除该逻辑阶段对应的所述异常标记并执行下一逻辑阶段;若所述逻辑阶段的实际执行时间等于或大于所述预期执行时间,或出现执行故障,则中断执行该运行过程并外发该逻辑阶段对应的所述异常标记,清除CMOS内存储的数据并重启。
本发明实施例的第二方面提供了一种用于主机运行过程的故障处理装置,包括:划分模块,用于将运行过程分为多个逻辑阶段,并为各个逻辑阶段设定预期执行时间以及为各个逻辑阶段执行故障设定对应的异常标记;
第一执行模块,用于若当所述逻辑阶段执行完毕且成功返回执行结果时,该逻辑阶段的实际执行时间小于所述预期执行时间,则清除该逻辑阶段对应的所述异常标记并执行下一逻辑阶段;第二执行模块,用于若所述逻辑阶段的实际执行时间等于或大于所述预期执行时间,或出现执行故障,则中断执行该运行过程并外发该逻辑阶段对应的所述异常标记,清除CMOS内存储的数据并重启。
本发明实施例的第三方面提供了一种用于主机运行过程的故障处理装置,包括:存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面所述方法的步骤。
本发明实施例的第四方面提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面所述方法的步骤。
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