[发明专利]用于海洋电子装备的加速实验综合平台及其方法有效
申请号: | 201710762124.7 | 申请日: | 2017-08-30 |
公开(公告)号: | CN107607461B | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
发明(设计)人: | 朱智源;夏克泉;徐志伟;杨李杰;厉敏;李娜雨 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01N17/00 | 分类号: | G01N17/00;G01M7/02 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 郑海峰 |
地址: | 310058 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 海洋 电子 装备 加速 实验 综合 平台 及其 方法 | ||
本发明公开了一种用于海洋电子装备的加速实验综合平台及其方法。该平台由箱盖、箱体、减震底座、试验架、带有细小孔的塑料网、电加热装置、盐雾加湿装置、振动装置、去湿装置、温度计、湿度计、压力计、计时器组成。所述箱盖上有自动控压装置;所述箱体本身有三层,内层为耐压玻璃,且有水冷却系统,以及保温层等;所述减震底座装上端布置有四根弹簧,可以起到减少仪器本身振动对周围环境的影响;所述电加热装置,盐雾加湿装置,电磁振动装置,去湿装置既可独立工作,也可同时工作。本发明可用于研究各种电子元器件在海洋环境综合应力下的可靠性。
技术领域
本发明涉及用于海洋电子装备的加速实验综合平台及其方法,用于探究海洋环境下,温度、湿度、盐雾、振动以及气压对电子器件的影响。属于海洋电子可靠性领域。
背景技术
在海洋环境下,温度、湿度、盐雾等因素会加速电子元器件的老化和锈蚀,导致其电性能下降、结构材料断裂和机械强度降低等失效模式的发生,进而影响电子元器件的可靠性。目前,对于海洋用电子元器件的可靠性的研究较少,相关研究存在试验及检测水平不高、性能参数变化规律不明、失效模式与失效机理不清、评估与预测手段不足等一系列问题。因此,如何评估海洋用电子元器件的可靠性已成为亟待解决的关键问题。为了更好的研究海洋环境下,温度、湿度、盐雾等因素对电子元器件可靠性和老化的影响,海洋电子装备的加速试验综合平台已成为海洋电子可靠性领域发展的必然需要。
发明内容
本发明旨在弥补现有海洋电子可靠性研究设备的空白,在考虑温度,湿度,盐雾,振动,压强等综合因素作用下,电子设备及系统的可靠性,提出用于海洋电子装备的加速实验综合平台及其方法。
本发明用于海洋电子装备的加速实验综合平台,包括箱盖、箱体、减震底座、试验架、塑料网、电加热装置、盐雾加湿装置、振动装置、去湿装置、温度计、湿度计、压力计、计时器;所述箱体的箱体口向外翻边,箱盖的箱盖口向内翻边;所述试验架与振动装置通过固定式联轴器联接,且联轴器与箱体之间填充弹性密封材料;所述温度计、湿度计、压力计、计时器固定在箱体内侧,且与试验架保持在同一高度;所述去湿装置与箱体联接,且上联接口高度低于试验架,下联接口高度低于塑料网的位置;所述塑料网所处的高度高于液面低于试验架;塑料网上设有细小孔用于阻挡液滴飞溅到试验架上,所述电加热装置置于液面高度以下;所述盐雾加湿装置安装在箱体底端;所述箱体放置在减震底座上。
优选的,所述箱盖为圆形且上面有把手,箱盖一侧竖直方向开有椭圆形的通孔,且通孔下边缘形状逐渐变成直径较小的圆形孔,之后圆形孔随高度降低口径逐渐增大,椭圆形通孔内放置压力块;压力块内开有通孔,压力块的进气孔在底面,出气孔在侧面;椭圆形通孔顶部密封,出气口在侧面。
优选的,所述箱体为圆柱形,内外分为三部分,内部第一部分为双层耐压玻璃,双层耐压玻璃之间为环形冷却管;中间第二部分为保温板;最外部第三部分为铝合金材料,且外部涂有绝缘材料。
优选的,所述试验架为三根相互成120°角的铜制金属棒,且每根金属棒上有两到三个金属夹,金属夹与金属棒之间通过球面副联接。
优选的,所述减震底座外部形状为正方形,内凹与箱体相配部分为圆形,凹陷部分有四个弹性支柱与箱体底部相连,底座外表面涂有绝缘材料。
优选的,所述振动装置包括飞碟形状的塑料块,塑料块下面粘有一个环形衔铁,整个塑料块通过两根弹簧与底板联接,底板上面固定有环形电磁铁,底板与箱体固定,电磁铁外接交流电源及二极管,分压电阻,开关组成回路。
优选的,所述去湿装置包括吸气叶轮,电机以及环形冷却管,电机与吸气叶轮相连,吸气叶轮将气体吸入腔室;环形冷却管入口与腔室连通;环形冷却管出口通向液面,且略高于液面。
优选的,所述电加热装置由加热电阻及滑动变阻器组成。
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