[发明专利]检测装置以及检测方法

权利要求书

1.一种检测装置，具备：

检测光子的至少一个第1检测器；

与上述第1检测器电连接的第1电极；

检测光子的多个第2检测器；以及

与上述第2检测器分别电连接的第2电极，

上述第1检测器的数量比上述第2检测器的数量少，

将上述第1检测器以及上述第2检测器检测出的上述光子作为第1信号、第2信号，

上述检测装置还具备处理部，该处理部被输入来自上述第1检测器的上述第1信号和来自上述多个第2检测器的上述第2信号，并输出上述第1信号以及上述第2信号的任意一方，

上述处理部具备根据上述第1信号对超过规定的阈值的脉冲的个数进行计数来计算上述第1检测器的第1计数率R1的单元、以及根据上述第2信号对超过规定的阈值的脉冲的个数进行计数来计算上述第2检测器的第2计数率R2的单元，

上述处理部基于上述第1计数率R1和上述第2计数率R2中的任意一方，生成输出数据。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其中，

上述第1检测器的个数n是满足式2的个数，

其中，R₀是预先决定的基准值，r_MicroCell是根据式1计算出的每一个检测器检测的计数率，

其中，ε是光子的平均能量，η为光子/keV，并且是每单位能量即keV的光子检测量，N_SiPM是将上述第1检测器与上述第2检测器相加而得的数，h是光子的入射频度。

3.根据权利要求1或者2所述的检测装置，其中，

上述第1检测器为一个。

4.根据权利要求1或者2所述的检测装置，其中，

在上述第1检测器上以及上述第2检测器上具备通过放射线的入射而发出光子的闪烁器。

5.根据权利要求1或者2所述的检测装置，其中，

在上述第1检测器与上述第2检测器之间或者上述第2检测器彼此之间具备分离部。

6.根据权利要求1或者2所述的检测装置，其中，

上述第1检测器与上述第2检测器的受光区域的大小相同。

7.根据权利要求1或者2所述的检测装置，其中，

上述第1检测器与上述第2检测器的受光区域的大小不同。

8.一种检测方法，其中，具备：

由第1检测器以及第2检测器检测光子的工序；

将上述第1检测器以及上述第2检测器检测出的上述光子作为第1信号、第2信号并经由第1读出部以及第2读出部向处理部输出的工序；

由上述处理部输出上述第1信号、上述第2信号中的任意一个信号的工序；

上述处理部根据上述第1信号对超过规定的阈值的脉冲的个数进行计数，来计算上述第1检测器的第1计数率R1，并且根据上述第2信号对超过规定的阈值的脉冲的个数进行计数，来计算上述第2检测器的第2计数率R2的工序；以及

上述处理部基于上述第1计数率R1以及上述第2计数率R2中的任意一方生成输出数据的工序。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其中，具备：

将上述R2与预先决定的基准值R0比较，在上述R2小于上述R0的情况下，输出上述R2的值的工序；以及

在上述R2为上述R0以上的情况下，输出上述R1的值的工序。