[发明专利]一种对服务器GPU进行EDPP测试的方法在审
申请号: | 201710756669.7 | 申请日: | 2017-08-29 |
公开(公告)号: | CN107590037A | 公开(公告)日: | 2018-01-16 |
发明(设计)人: | 韩超 | 申请(专利权)人: | 郑州云海信息技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 济南诚智商标专利事务所有限公司37105 | 代理人: | 黄晓燕 |
地址: | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 服务器 gpu 进行 edpp 测试 方法 | ||
技术领域
本发明涉及服务器GPU测试技术领域,具体地说是一种对服务器GPU进行EDPP测试的方法。
背景技术
计算型服务器——PCIE-SWITH(PCIE,全称为peripheral component interconnect express,是一种高速串行计算机扩展总线标准;SWITH,是一种服务器)是一种全新架构的服务器,该服务器在中国的整机柜服务器领域能够满足客户对高性能计算服务器的需求。
然而在服务器的生产研发阶段,对其图形处理器(英语:Graphics Processing Unit,缩写:GPU)的测试是一个重要的环节。由于在测试过程中测试项较多、每个测试项较长,单个loop EDPP(EDPP,英文全称为electrical date peak processing,供电数据峰值处理)测试全程需3个小时左右时间,且为多个节点同时持续必测项,故工作量极大。
现有测试手段均为手动测试且对GPU逐个进行测试,使用时间长,且需人工选择,增加工作人员的工作负担,工作效率低,且人工选择难免会出现错误和纰漏。
发明内容
为克服上述现有技术存在的不足,本发明的目的在于提供一种高自动化程度、高测试效率的对服务器GPU进行EDPP测试的方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种对服务器GPU进行EDPP测试的方法,包括以下步骤:
搭建测试环境;
对多个GPU同时进行多次EDPP测试,每次测试均重启测试程序;
将测试过程及结果进行记录。
进一步地,所述搭建测试环境的具体过程为:使GPUBOX满配,将PCIE-SWITCH的GPUBOX通过Mini SAS HD连接测试服务器端,并拷贝显卡驱动及测试工具到服务器端的操作系统。
进一步地,所述对多个GPU同时进行多次EDPP测试,每次测试均重启测试程序的具体过程为:
输入测试节点IP和测试次数变量;
判断测试次数变量是否在预设测试次数范围内;
如果测试次数变量不在预设次数范围内,则结束测试;
如果测试次数变量在预设次数范围内,则判断测试次数变量是否为1;
如果测试次数变量不是1,则关闭正在运行的测试程序,进行下一步的操作;如果测试次数变量是1,则调用与测试工具匹配的显卡驱动,进行下一步的操作;
登入测试节点,使各测试节点同时启动测试程序,选择EDPP测试项进行测试,并输出测试结果,使测试次数变量加1,重复测试。
进一步地,所述调用与测试工具匹配的显卡驱动的具体步骤为:
执行驱动程序版本检查命令,根据驱动程序的版本号判断现有显卡驱动是否为测试所需驱动;
如果是测试所需驱动,则直接调用该显卡驱动;
如果不是测试所需驱动,则卸载该显卡驱动,调用拷贝的显卡驱动。
进一步地,通过ssh服务登入测试节点,并记录输出信息,所述输出信息包括每个GPU的负载、编号、GPU使用率、功耗、频率、温度和状态中的一种或多种信息,并通过log文件记录。
进一步地,所述测试结果与输出信息记录在同一log文件内。
本发明的有益效果是:
1、本发明将PCIE-SWITH整机柜满配,多节点同时对GPU进行EDPP测试,单循环下实现对32个GPU的同时测试,大大缩减了测试时间,提高了工作效率;。
2、本发明将测试的结果及GPU信息记录到同一个log文件中,方便后续对GPU性能的查看和问题的准确定位,避免人工测试和对GPU选择的失误。
3、本发明的方法将测试次数设为多次,且每次测试均重新启动测试程序,避免上次测试对本次测试造成影响,保证每次测试结果的准确、可靠性。
附图说明
图1是本发明所述方法的流程示意图。
图2是本发明中对满配的GPU同时进行多次EDPP测试的流程示意图。
具体实施方式
为能清楚说明本方案的技术特点,下面通过具体实施方式,并结合其附图,对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开,下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外,本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的,其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意,在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。
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