[发明专利]一种利用紫外成像仪监测电晕放电的方法

权利要求书

1.一种利用紫外成像仪监测电晕放电的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一：采用紫外成像仪获取GIS电气设备的可见光图像和紫外图像，并对紫外成像仪所拍摄的可见光图像和紫外图像进行滤波去噪，然后对滤去噪后的可见光图像和紫外图像进行融合得到双光谱图像；

步骤二：对步骤一滤波后的紫外图像进行自适应阈值分割，分割出图像的目标和背景；

步骤三：对步骤二分割后的二值图像进行边缘检测，根据边缘点坐标在双光谱图像中标注出放电区域，计算放电区域面积，以衡量故障的严重程度。

2.根据权利要求1所述的一种利用紫外成像仪监测电晕放电的方法，其特征在于，步骤一中首先将紫外成像仪所拍摄的紫外图和可见光图转换为灰度图，然后依次采用形态学算子和中值滤波算法对灰度图进行滤波。

3.根据权利要求2所述的一种利用紫外成像仪监测电晕放电的方法，其特征在于，采用形态学算子分别对紫外成像仪所拍摄的紫外图和可见光图的灰度图进行滤波具体为：采用腐蚀和膨胀综合组成的开启和闭合运算对灰度图进行处理，具体为：

f·b=(f⊕b)Θb]]>

其中，表示开运算，f·b表示闭运算；

表示b(x,y)对f(x,y)进行的灰度膨胀，fΘb表示b(x,y)对f(x,y)进行的灰度腐蚀，且和fΘb分别定义为：

(f⊕b)(s,t)=max{f(s-x,t-y)+b(x,y)|(s-x),(t-y)∈Df;(x,y)∈Db}]]>

(fΘb)(s,t)＝min{f(s+x,t+y)-b(x,y)|(s+x),(t+y)∈D_f；(x,y)∈D_b}

其中，f(x,y)是输入的灰度图，b(x,y)是结构元素，D_f和D_b分别是输入的灰度图f(x,y)和结构元素b(x,y)的定义域，(x,y)和(s,t)表示图像中的像素点坐标。

4.根据权利要求2所述的一种利用紫外成像仪监测电晕放电的方法，其特征在于，步骤一中对形态学算子滤波后的图像采用中值滤波算法进行滤波具体为：将形态学算子滤波后的图像在某一点的邻域中的像素按照灰度级大小排列，取其中值代替中心点的像素值，逐行依次对图像中的每个像素点执行该操作，即完成图像的中值滤波。