[发明专利]一种基于取样变频技术的高精度频率测量系统及方法

权利要求书

1.一种基于取样变频技术的高精度频率测量系统，其特征在于，包括：依次连接的中频处理部件、射频计算部件和射频校验部件；

所述中频处理部件用于实现中频测量过程中的针对某一输入本振测量中频、判断中频测量结果是否满足频率测量分辨率要求，以及判断中频测量结果中是否存在影响测量的交调信号；

所述射频计算部件用于根据中频处理部件两次测量的中频值，计算出谐波次数、正负号以及对应的射频值；

所述射频校验部件用于校验射频计算部件计算出来的射频值是否为谐波信号，如果是谐波信号则进行谐波排除。

2.如权利要求1所述的一种基于取样变频技术的高精度频率测量系统，其特征在于，所述中频处理部件包括：

中频测量部件：用于针对某一输入本振测量中频，锁定该本振执行多次中频测量并保存中频测量结果；

中频优化部件：用于读取中频测量部件的多个中频测量值，判断这些中频测量值是否满足频率测量分辨率要求，若满足计算其平均值作为交调排除部件的输入参数；

交调排除部件：用于读取中频优化部件输入的中频值，判断该中频值附近是否存在影响测量的交调信号，如果存在影响测量的交调信号，则进行交调排除。

3.如权利要求2所述的一种基于取样变频技术的高精度频率测量系统，其特征在于，所述中频优化部件判断中频测量部件输入的多个中频值是否满足频率测量分辨率要求，若满足，则计算其平均值送交调排除部件；若不满足，则通知中频处理部件当前中频测量失败。

4.如权利要求2所述的一种基于取样变频技术的高精度频率测量系统，其特征在于，所述交调排除部件判断中频值附近是否存在影响测量的交调信号，如果存在影响测量的交调信号，则通知中频处理部件当前中频存在交调；如果不存在影响测量的交调信号，则保存该中频值作为射频计算部件的输入参数。

5.如权利要求1所述的一种基于取样变频技术的高精度频率测量系统，其特征在于，所述射频校验部件校验射频计算部件计算出来的射频值是否为谐波信号，如果是谐波信号，则进行谐波排除；否则，将该射频作为最终射频测量结果输出。

6.如权利要求1所述的一种基于取样变频技术的高精度频率测量系统，其特征在于，所述中频处理部件与射频计算部件连接；射频计算部件分别接收两次中频处理部件的中频测量结果，并根据两次中频测量结果计算出谐波次数、正负号以及对应的射频值。