[发明专利]一种通信光纤宏弯损耗测试方法

说明书

本发明公开了一种通信光纤宏弯损耗测试方法，将待测通信光纤按照测试要求的半径和圈数绕圈后，置于光功率吸收剂中，采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试，从而实现在测试过程中有效吸收泄露出光纤的光功率，抑制W波对测试的影响，获得光纤宏弯损耗的真实数值，保证了宏弯损耗测试的准确性和稳定性。

技术领域

本发明涉及光纤测试技术领域，具体涉及一种通信光纤宏弯损耗测试方法。

背景技术

通信光纤的宏弯损耗随波长的增加和弯曲半径的减少而增大，在弯曲半径情况下对光纤的宏弯损耗进行测试时，针对同一个测试样品、在相同测试条件下，多次测试结果会出现较大差异，引起该差异的主要原因是弯曲条件下辐射出纤芯的辐射模经过光纤芯与包层、包层与光纤涂层、光纤涂层与空气界面多次反射回到纤芯，与传输模产生耦合，在特定的条件下会出现干涉加强或减弱的现象，称为Whispering gallery modes（简称W波）的影响。受该现象的影响，在进行光纤的宏弯损耗测试时，将会出现宏弯损耗振荡现象，导致宏弯损耗测试结果不准确。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是抑制W波的影响，实现对通信光纤宏弯损耗的准确、稳定测试，目的在于提供一种通信光纤宏弯损耗测试方法，解决当前测试方法测量不准确、稳定性差的问题。

本发明通过下述技术方案实现：

一种通信光纤宏弯损耗测试方法，包括如下步骤：

A、按照测试要求制备待测光纤，具体为将待测光纤按照测试要求的半径和圈数绕圈；

B、将待测光纤置于光功率吸收剂中；

C、采用宏弯损耗测试装置对待测光纤宏弯损耗进行测试。

特别地，所述光功率吸收剂的光折射率大于等于光纤涂层的光折射率。

特别地，所述光功率吸收剂的光折射率大于等于光纤包层的光折射率，所述待测光纤采用剥除涂层后的光纤。

特别地，所述光功率吸收剂具体采用肉桂酸乙酯。

特别地，所述光功率吸收剂具体采用甘油。

本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：

本发明所述一种通信光纤宏弯损耗测试方法，将待测光纤按照测试要求的半径和圈数绕圈后，置于光功率吸收剂中，采用宏弯损耗测试装置对待测光纤的宏弯损耗进行测试，从而实现在测试过程中有效吸收泄露出光纤的光功率，抑制W波对测试的影响，获得光纤宏弯损耗的真实数值，保证了光纤宏弯损耗测试的准确性和稳定性。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明实施例的限定。在附图中：

图1为本发明实施例1提供的存在W波干扰时光纤内部光折射结构图。

图2为本发明实施例1提供的采用肉桂酸乙酯作为光功率吸收剂时获得的光纤宏弯损耗测试结果。

图3为本发明实施例2提供的采用甘油作为光功率吸收剂时获得的光纤宏弯损耗测试结果。

图4为本发明实施例1提供的通信光纤宏弯损耗测试方法流程图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本发明作进一步的详细说明，本发明的示意性实施方式及其说明仅用于解释本发明，并不作为对本发明的限定。