[发明专利]一种基于最大熵理论的装配工艺优化方法有效

专利信息
申请号: 201710729788.3 申请日: 2017-08-23
公开(公告)号: CN107609227B 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 金鑫;张之敬;王子夫;马兆利;肖木峥 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G06F30/23 分类号: G06F30/23;G06F30/17;G06F119/14
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 廖辉;仇蕾安
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 最大 理论 装配 工艺 优化 方法
【权利要求书】:

1.一种基于最大熵理论的装配工艺优化方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤一,针对待测零件进行测量建模;

步骤二,输入初始装配工艺参数,在当前装配能力可以达到的最大和最小的装配工艺参数的范围内选择初始装配工艺参数,并输入三维实体装配模型;

步骤三,对零件进行力学仿真计算,精度计算和熵值计算;

步骤四, 判断装配后的零件是否满足精度要求;

若不满足条件,则以当前装配能力可以控制的装配参数最小变化量为步长,在边界条件范围内改变初始装配工艺参数,返回步骤三在力学仿真软件中进行迭代计算;

若满足条件,则将该装配工艺参数保存在满足精度要求的装配工艺参数集合中;

步骤五,判断计算过的装配工艺参数是否完全覆盖了边界条件所包含的参数范围,如果不满足,在边界条件范围内改变初始装配工艺参数,返回步骤三在力学仿真软件中进行迭代计算;如果满足,选择熵最大的参数为最优的装配工艺参数;

步骤六,完成最大熵的装配工艺参数优化。

2.如权利要求1所述的装配工艺优化方法,其特征在于,所述步骤一中测量建模具体过程是:针对待测零件,以其中随机一点为原点o、以垂直于待测零件表面的方向为z轴、以平行于待测零件表面建立xoy面,由此建立测量坐标系oxyz,采用三坐标测量机对待测零件表面进行测量,并使用测量点数据,建立反映待测零件表面真实形貌的三维实体模型,对三维实体模型进行有限元单元网格划分,将测量的三维实体模型装配。

3.如权利要求1所述的装配工艺优化方法,其特征在于,所述步骤三的计算过程如下:在仿真软件中设置材料参数和接触条件参数,并进行装配应力分析,得到零件的节点坐标和单元的应变能;

对装配系统精度进行计算,根据零件节点坐标,计算零件实际位置与理想位置之间的偏差,并根据零件间的装配关系和精度要求,计算几何装配误差;

对零件接触面的熵值进行计算,根据单元的应变能计算零件接触面的熵值。

4.如权利要求3所述的装配工艺优化方法,其特征在于,所述步骤三中的几何装配误差由装配体中每个零件的几何误差和受装配力影响的零件变形误差相互传递、耦合得到;经过力学仿真计算后的零件节点坐标能有效的反应这种几何装配误差。

5.如权利要求1所述的装配工艺优化方法,其特征在于,所述步骤三中的熵值由力学仿真计算后零件的单元应变能计算得到。

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