[发明专利]一种涂层缺陷的检测方法

权利要求书

1.一种涂层缺陷的检测方法，其特征在于：包括以下步骤：

A.利用闪光热成像无损检测设备获得热图像数据；

B.对热图像数据进行去除背景处理及标准化处理；

C.对标准化处理后的每一帧热图片进行向量化处理，并顺序化排列，构架出一个新矩阵，新矩阵的每一个行向量代表了每一个像素点的温度-时间变化曲线；

假设得到构件的新矩阵为A，首先构建矩阵W，使用如下公式：

其中，A_mean为矩阵A的第一个行向量；

然后对矩阵W进行奇异值分解(SVD)，如下式所示：

其中，D是一个对角矩阵，保存矩阵W的特征值，U是相应的特征向量矩阵；

通过利用特征向量矩阵Us与矩阵A，计算得到表征缺陷的特征图像，其计算公式如下：，其中矩阵的每一列表示一个特征图像；

D.利用PCA法得到表征缺陷的特征图像；

E.将得到的特征图像进行图像分割处理，量化出实际试件中缺陷的大小；

步骤E中，进行图像分割处理的方法为区域生长法；

量化出实际试件中缺陷的大小的具体做法是：在对特征图像进行图像分割处理后，用二值图像把缺陷和背景区分出来，然后通过计算缺陷在热图像中所占像素点的量，将像素点的量和实际缺陷大小，依据热图像中的像素点与试件实际大小的比例，建立图像上的缺陷和实际缺陷尺寸的对应关系，实现热图像缺陷的量化分析；

步骤E中，根据试件的实际大小与热图像中的像素点的关系，计算图像上的缺陷与实际缺陷尺寸的关系，采用的等式：

；

；

；

缺陷的像素点数＝横向像素点数×纵向像素点数；

所述缺陷的横向像素点数和缺陷的纵向像素点数通过使用纵向标准向量扫描处理，统计、计算得到。

2.如权利要求1中所述的涂层缺陷的检测方法，其特征在于：步骤A中，所述闪光热成像无损检测设备包括红外热像仪和卤素灯。

3.如权利要求1中所述的涂层缺陷的检测方法，其特征在于：步骤B中，所述标准化处理是按列零均值标准化进行处理，原始数据的标准化计算式如下：

；

式中：。

4.如权利要求1中所述的涂层缺陷的检测方法，其特征在于：所述纵向标准向量扫描处理的具体操作如下：首先利用标准向量依次和分割后的二值图作运算，然后统计出运算后的向量中缺陷的像素点数，得到一个扫描统计结果图，其横坐标可以计算出缺陷的横向像素点，纵坐标可得出缺陷的纵向占像素点。