[发明专利]一种快速测试天线阵方向图的方法

说明书

本发明公开了一种快速测试天线阵方向图的方法，首先将信号源、标准接收机以及待测试的天线阵布局在微波暗室中，通过对待测试的天线阵进行编号并确定天线与角度之间的关系，再对微波暗室进行区域划分，按区域通过信号源向被测天线发送信号，然后通过标准接收机接收被测天线接收的信号，通过拟合绘制天线阵方向图。本发明能够快速简单地实现对天线阵方向图的测量，提高了工作效率；同时，还可以通过搭配不同的信号源以适用于不同类型天线阵列方向图的测量，通用性强。

技术领域

本发明涉及北斗天线技术领域，特别是一种测试天线阵方向图的方法。

背景技术

天线方向图是衡量天线性能的重要图形，可以从天线方向图中观察到天线的各项参数。天线阵方向图测试的主要目的是检验天线的性能指标是否满足设计要求，以实现对天线阵关键部件和尺寸的调整。通过测试，可进行有效的故障诊断，可验证天线阵设计思路的正确与否，并为研制新型天线提供必要的理论修正。

目前，对天线阵方向图测试的方法主要采用转台测量法。测试前将待测试天线阵架设在转台上，并通过电缆将频谱仪与天线阵接口连接在一起；开启转台后，天线阵会在转台的控制下做俯仰转动，天线转动过程中接收到的信号通过电缆传送到频谱仪，频谱仪再对接收到的信号进行分析，最后再形成天线阵方向图。在整个测试过程中，只能通过转台转动逐一测试天线阵列的某一角度的功率，测试周期长，且软件控制流程繁琐。

发明内容

本发明需要解决的技术问题是提供一种能够快速测试天线阵方向图的方法，以提高工作效率。

为解决上述技术问题，本发明所采取的技术方案如下。

一种快速测试天线阵方向图的方法，具体包括以下步骤：

S1.对微波暗室内部离散的M个天线阵布局进行初始化处理；

S2.根据测试波束宽度要求，将微波暗室内部布局离散的天线阵划分成N个区域，每个区域覆盖的空间夹角范围为Φj；

S3.控制某个区域对应的信号源输出频率为f的载噪比信号，直到标准接收机接收到信号为止，存储该区域包含的天线编号以及输出的载噪比和功率；

S4.标准接收机通过被测天线阵接收信号，存储接收到的载噪比信息；

S5.重复步骤S3至S4，直到所有区域全部测量完成，存储全部接收数据；

S6.对存储的数据进行处理，逐步计算每一区域接收的载噪比信息和输出载噪比信号的差值，得到被测天线在特定波束宽度对应的空间夹角范围内的增益，通过全部数据拟合，绘制被测天线阵f频点的方向图；

S7.重复步骤S3-S6，直到所有频点的方向图绘制完成。

上述一种快速测试天线阵方向图的方法，步骤S1中所述初始化处理的内容包括天线编号、天线角度θi以及天线编号与天线角度的关系。

由于采用了以上技术方案，本发明所取得技术进步如下。

本发明用于对于天线阵方向图进行快速测量，省略了原有方案中的转台控制流程，只需要提前编制好天线编号和天线角度关系，根据测试波束的宽度，对暗室进行分区测试，减少了测试数据和处理时间，能够快速简单地实现对天线阵方向图的测量，提高了工作效率；同时，本发明还可以通过搭配不同的信号源以适用于不同类型天线阵列方向图的测量，通用性强。

附图说明

图1为本发明的流程图。

具体实施方式

下面将结合附图和具体实施例对本发明进行进一步详细说明。