[发明专利]顾及电离层约束的RTK定位方法有效

专利信息
申请号: 201710721898.5 申请日: 2017-08-22
公开(公告)号: CN107544081B 公开(公告)日: 2022-12-02
发明(设计)人: 涂锐;卢晓春;张睿;张鹏飞;张兴刚;刘金海;黄小东;洪菊;王星星 申请(专利权)人: 中国科学院国家授时中心
主分类号: G01S19/43 分类号: G01S19/43
代理公司: 北京栈桥知识产权代理事务所(普通合伙) 11670 代理人: 刘婷
地址: 710600 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 顾及 电离层 约束 rtk 定位 方法
【权利要求书】:

1.一种顾及电离层约束的RTK定位方法,其特征在于,包括下述步骤:

第一步,建立多系统RTK双差观测方程模型;

基于多GNSS系统非组合的双差观测值,通过精细考虑电离层和对流层残余误差的影响,建立双差的RTK观测模型,可实时估计用户和基准站间的基线向量以及模糊度、电离层、对流层参数;

其中,GNSS伪距和载波相位的双差观测值线性化后可以表达为如下形式:

其中,角标i和j分别代表基准站和用户站,p和q表示卫星,并且p代表参考卫星, ij表示站间差分,pq表示星间差分, ρ是站星间几何距离,P,Φ分别为伪距和载波相位观测值,λ为载波波长, dX、dY、dZ为需要求解的基线向量,l、m和n代表卫星和接收机间的单位矢量,Amb代表载波相位模糊度,δI和δT代表电离层和对流层延迟, t表示信号接收时间,f1和f2为频率,ε为观测噪声,P1、P2、L1、L2分别表示两个频率上的伪距和相位观测;另外,双差变量按照如下方式定义:

这里δ为标准差,MT(t)为对流层延迟湿分量投影系数

第二步,确定双差电离层残差约束模型;

将双差的电离层残差当作未知参数进行实时估计,并附加先验束,空间域和时间域的信息约束,消除双差电离层残差影响;

电离层先验信息约束模型可以表达为如下形式:

其中,为电离层延迟的投影系数,它可以由单层模型计算,代表垂直方向上的总电子含量,

基于先验电离层信息约束,双差观测电离层残差的虚拟观测方程可以写成如下形式:

为先验信息噪声εprior的方差,可以设定为10-20cm2

电离层VTEC的空间特性可以表达为与经差、纬差有关的平面函数表达式为:

m0,n0为平面模型的阶数,因对单站而言,电离层穿刺点的分布较近,可以定义为2阶,λ为穿刺点的经纬度,λ0为测站的经纬度,Eij为平面模型的系数;

基于空间信息约束,双差观测电离层残差的虚拟观测方程可以写成如下形式:

为空间约束εspace的噪声方差,可以设定为5-10cm2

根据电离层变化的特性,VTEC随时间变化缓慢,采用随机过程进行描述,表达式如下:

这里,代表双差电离层残差的历元变化,为时间约束εtemp的方差。

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