[发明专利]一种基于Kerr效应的集成式电场测量探头

权利要求书

1.一种基于Kerr效应的集成式电场测量探头，其特征在于，在电场测量探头支架(2)水平中心线的两侧平行布置有光纤准直器(21)和光纤耦合器(22)，其后在水平中心线上依次设置镂空槽(23)和棱镜槽(25)；光纤准直器(21)、光纤耦合器(22)内置于测量探头支架(2)内部，并在测量探头支架(2)的相应位置处设有排气孔(24)；全反射棱镜(3)布置于棱镜槽(25)内；在电场测量探头支架(2)外部，设置有圆偏振保持光纤(1)和光纤准直器(21)相连，光纤型偏振器(4与光纤耦合器(22)相连。

2.根据权利要求1所述一种基于Kerr效应的集成式电场测量探头，其特征在于，所述光纤型偏振器(4)的偏振方向与电场方向成45°。

3.根据权利要求1所述一种基于Kerr效应的集成式电场测量探头，其特征在于，所述光纤型偏振器(4)为光纤型检偏器或者偏振光纤。

4.根据权利要求1所述一种基于Kerr效应的集成式电场测量探头，其特征在于，所述整体结构采用非金属材料,用于减小测量探头的引入对待测电场的改变。

5.根据权利要求1所述一种基于Kerr效应的集成式电场测量探头，其特征在于，所述全反射棱镜的材质为N-BK7型玻璃、UV熔融石英、氟化钙CaF₂、硒化锌ZnSe或锗Ge；由全反射棱镜引起的S光和P光的相位差根据下式计算得到，

上式中，i₁是发生全反射时的入射角，n₂₁是发生全反射时交界面处两种介质的相对折射率。

6.根据权利要求1所述一种基于Kerr效应的集成式电场测量探头，其特征在于，所述光纤准直器(21)、光纤耦合器(22)、镂空槽(23)和棱镜槽(25)处是充满待测液体电介质的无气泡空间。

7.根据权利要求1所述一种基于Kerr效应的集成式电场测量探头，其特征在于，所述测量探头支架(2)设有排气孔(24)及棱镜槽(25)，以保证光纤准直器(21)、光纤耦合器(22)、镂空槽(23)和棱镜槽(25)处是充满待测液体电介质的无气泡空间。