[发明专利]时钟系统性能分析方法及装置有效
申请号: | 201710692661.9 | 申请日: | 2017-08-14 |
公开(公告)号: | CN109388839B | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 王昊;杨梁 | 申请(专利权)人: | 龙芯中科技术股份有限公司 |
主分类号: | G06F30/3308 | 分类号: | G06F30/3308;G06F30/327 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 康欢欢;刘芳 |
地址: | 100095 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 时钟 系统 性能 分析 方法 装置 | ||
1.一种时钟系统性能分析方法,其特征在于,包括:
获取待分析的时钟系统的互连线的寄生参数以及第一仿真网表;其中,所述时钟系统的拓扑结构是网格结构,所述时钟系统包括多条时钟路径,每条时钟路径由多级反相器级联组成,每条时钟路径的最后一级反相器连接时钟网格,所述时钟网格与负载连接,所述第一仿真网表中包括所述时钟系统中的各反相器的连接关系;
在所述第一仿真网表中的各条时钟路径的最后一级反相器对应的参数中添加时延,形成添加时延后的第二仿真网表;其中,所述时延为根据各条时钟路径上的反相器的理想时延与反相器的波动时延所得,所述反相器的波动时延由片上波动造成;
根据所述第二仿真网表以及所述互连线的寄生参数,确定所述待分析的时钟系统的时钟偏差。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第二仿真网表以及所述互连线的寄生参数,确定所述待分析的时钟系统的时钟偏差,包括:
根据所述第二仿真网表以及所述互连线的寄生参数确定所述待分析的时钟系统的时延的样本;
根据所述时延的样本确定所述待分析的时钟系统的时钟偏差的统计量。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述根据所述时延的样本确定所述待分析的时钟系统的时钟偏差的统计量之后,所述方法还包括:
根据所述时钟偏差的统计量确定所述待分析的时钟系统的设计保守量是否合理。
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,
所述在所述第一仿真网表中的各条时钟路径的最后一级反相器对应的参数中添加时延,形成添加时延后的第二仿真网表之前,所述方法还包括:
通过实验的方式获取所述片上波动造成的反相器的波动时延;或者,
通过概率密度函数获取片上波动造成的各反相器的波动时延;其中,所述片上波动造成的各反相器的波动时延服从正态分布。
5.根据权利要求1-3任一项所述的方法,其特征在于,所述获取待分析的时钟系统的互连线的寄生参数以及第一仿真网表,包括:
通过寄生参数提取工具获取所述互连线的寄生参数;
通过电路仿真工具获取所述第一仿真网表。
6.一种时钟系统性能分析装置,其特征在于,包括:
第一获取模块,用于获取待分析的时钟系统的互连线的寄生参数以及第一仿真网表;其中,所述时钟系统的拓扑结构是网格结构,所述时钟系统包括多条时钟路径,每条时钟路径由多级反相器级联组成,每条时钟路径的最后一级反相器连接时钟网格,所述时钟网格与负载连接,所述第一仿真网表中包括所述时钟系统中的各反相器的连接关系;
添加模块,用于在所述第一仿真网表中的各条时钟路径的最后一级反相器对应的参数中添加时延,形成添加时延后的第二仿真网表;其中,所述时延为根据各条时钟路径上的反相器的理想时延与反相器的波动时延所得,所述反相器的波动时延由片上波动造成;
第一确定模块,用于根据所述第二仿真网表以及所述互连线的寄生参数,确定所述待分析的时钟系统的时钟偏差。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述第一确定模块具体用于:
根据所述第二仿真网表以及所述互连线的寄生参数确定所述待分析的时钟系统的时延的样本;
根据所述时延的样本确定所述待分析的时钟系统的时钟偏差的统计量。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
第二确定模块,用于根据所述时钟偏差的统计量确定所述待分析的时钟系统的设计保守量是否合理。
9.根据权利要求6-8任一项所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
第二获取模块,用于通过实验的方式获取所述片上波动造成的反相器的波动时延;或者,
第三获取模块,用于通过概率密度函数获取片上波动造成的各反相器的波动时延;其中,所述片上波动造成的各反相器的波动时延服从正态分布。
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