[发明专利]OLED显示面板、母板及测试其切割区域和对其切割的方法

权利要求书

1.一种测试OLED显示面板母板切割区域的方法，所述OLED显示面板母板包括封装区域和非封装区域，其特征在于，所述方法包括：

在待封装的所述OLED显示面板母板的所述非封装区域形成碱性指示剂层；

在待封装的所述OLED显示面板母板上覆盖掩模板，所述掩模板包括镂空区域和非镂空区域，所述镂空区域与所述封装区域对应，所述非镂空区域覆盖所述非封装区域；

采用化学气相沉积法，反应气体透过所述镂空区域在待封装的所述OLED显示面板母板上形成覆盖所述封装区域的封装薄膜，所述反应气体包括碱性气体，所述碱性气体可使碱性指示剂层中包含的碱性指示剂变色；

去除所述掩模板；

测量所述碱性指示剂层中颜色发生变化的部分的宽度，和/或，测量所述碱性指示剂层中颜色未发生变化的部分的宽度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在待封装的所述OLED显示面板母板的所述非封装区域形成碱性指示剂层，包括：

在所述非封装区域形成碱性指示剂薄膜，并对所述碱性指示剂薄膜进行固化处理；

或者，在待封装的所述OLED显示面板母板上形成可感光的碱性指示剂薄膜，采用曝光、显影工艺以在所述非封装区域形成所述碱性指示剂层。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述碱性气体包括氨气，所述碱性指示剂层中包含的碱性指示剂，可与氨气和/或氨气的等离子体反应并变色。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量所述碱性指示剂层中颜色发生变化的部分的宽度，和/或，测量所述碱性指示剂层中颜色未发生变化的部分的宽度，包括：

利用自动光学检测设备或显微镜设备，测量所述碱性指示剂层中颜色发生变化的部分的宽度，和/或，测量所述碱性指示剂层中颜色未发生变化的部分的宽度。

5.一种OLED显示面板母板，包括封装区域和非封装区域，其特征在于，还包括封装薄膜、设置于所述非封装区域的碱性指示剂层；

所述封装薄膜设置于所述封装区域、及所述非封装区域中与所述封装区域邻接的部分区域；

其中，所述碱性指示剂层中与所述封装薄膜重合的部分的颜色，与所述碱性指示剂层中其他部分的颜色不同。

6.根据权利要求5所述OLED显示面板母板，其特征在于，所述碱性指示剂层中包含的碱性指示剂，可与氨气和/或氨气的等离子体反应并变色。

7.根据权利要求5所述OLED显示面板母板，其特征在于，所述碱性指示剂层的厚度为1～5μm。

8.一种OLED显示面板母板的切割方法，其特征在于，所述方法包括：

沿切割区域中的切割线对所述OLED显示面板母板进行切割；

其中，所述切割区域包括：由权利要求1所述的测试OLED显示面板母板切割区域的方法中的碱性指示剂层中颜色发生变化的部分的宽度，和/或，所述碱性指示剂层中颜色未发生变化的部分的宽度决定的区域。

9.一种OLED显示面板，其特征在于，所述OLED显示面板由权利要求8所述的切割方法切割得到。