[发明专利]一种电子电路的测试装置在审
申请号: | 201710687400.8 | 申请日: | 2017-08-11 |
公开(公告)号: | CN107505481A | 公开(公告)日: | 2017-12-22 |
发明(设计)人: | 刘长蕊 | 申请(专利权)人: | 纳恩博(天津)科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02;G01R31/28 |
代理公司: | 北京合智同创知识产权代理有限公司11545 | 代理人: | 李杰 |
地址: | 301701 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电子电路 测试 装置 | ||
技术领域
本发明实施例涉及性能测试技术领域,尤其涉及一种电子电路的测试装置。
背景技术
手把下段是由电阻、电容、LED、连接器等电子元件和线束组成的电子电路产品,是连接平衡车整车控制端与显示屏的重要部分。
电子元件(electronic component),是电子电路中的基本元素,通常是个别封装,并具有两个或以上的引线或金属接点。电子元件须相互连接并与PCB板构成一个具有特定功能的电子电路。线束是电路中连接各电器设备的接线部件,由绝缘护套、接线端子、导线及绝缘包扎材料等组成。常见的故障有:插接件接触不良,导线之间的短路、断路、漏接等。
目前手把下段的测量通常采用:与测试装置连接,手动切换导通开关,测试电子元件的性能、元件焊接的可靠性和线束不良的方式。此方法受人为因素影响较大,且操作步骤较多,测试时间较长,不利于产线量产。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例所解决的技术问题之一在于提供一种电子电路的测试装置,用以克服现有技术中手把下段测试过程中受人为因素影响较大,且操作步骤较多,测试时间较长,不利于产线量产的缺陷,达到准确测试和提高测试效率的效果。
基于上述目的,本发明实施例提供一种电子电路的测试装置,包括:控制电路、时钟源电路、驱动电路和测试电路,所述控制电路分别与所述时钟源电路和所述驱动电路连接,所述控制电路用于根据控制信号向所述驱动电路发送驱动信号,进而驱动所述测试电路对电子电路的性能进行测试,所述时钟源电路用于为所述控制电路提供外部时钟,使所述控制电路驱动所述驱动电路改变所述测试电路与所述电子电路的连接关系,以完成对所述电子电路的不同性能的测试。
可选地,在本发明的一具体实施例中,所述测试电路包括多个测试子电路,每个测试子电路用于对所述电子电路的不同性能进行测试,所述控制电路驱动所述驱动电路改变所述测试电路中不同测试子电路通过导通开关与所述电子电路的连接关系,以对所述电子电路的不同性能的测试。
可选地,在本发明的一具体实施例中,每个所述的测试子电路分别设置有指示灯,当所述测试子电路通电对所述电子电路进行测试时,所述指示灯点亮。
可选地,在本发明的一具体实施例中,所述导通开关接收到所述驱动电路的电信号后,依次连通不同的所述测试子电路,以自动对所述电子电路的不同性能进行测试。
可选地,在本发明的一具体实施例中,在下一所述测试子电路连通时,断开上一所述测试子电路。
可选地,在本发明的一具体实施例中,所述控制电路还包括存储模块,所述存储模块用于存储控制固件。
可选地,在本发明的一具体实施例中,还包括输入端口,所述输入端口与所述存储模块连接,所述输入端口用于向所述存储模块导入控制固件。
可选地,在本发明的一具体实施例中,所述导通开关包括多个测试切换单元,所述测试切换单元用于改变所述测试电路中不同测试子电路与所述电子电路的连接关系。
可选地,在本发明的一具体实施例中,所述电子电路上设置有指示灯,用于显示所述测试装置对所述电子电路的测试结果。
可选地,在本发明的一具体实施例中,所述驱动电路包括指示灯驱动电路,所述指示灯驱动电路用于控制所述指示灯亮暗的先后顺序,以显示所述测试装置对所述电子电路测试的先后顺序。
可选地,在本发明的一具体实施例中,还包括供电电路,所述供电电路用于向所述控制电路、所述时钟源电路、所述驱动电路和所述测试电路供电。
可选地,在本发明的一具体实施例中,所述供电电路包括分压模块,所述分压模块用于对电源电压进行分压,以向所述控制电路、所述时钟源电路、所述驱动电路和所述测试电路和所述电子电路分别供电。
可选地,在本发明的一具体实施例中,还包括:控制开关,所述控制开关用于生成所述控制信号,所述控制电路接收到所述控制信号后控制所述测试装置开始或结束对所述电子电路的测试。
可选地,在本发明的一具体实施例中所述控制开关的数量为多个,一个控制开关对应一个所述测试电路。
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