[发明专利]基于素信号组合求解缺陷漏磁信号的方法有效
申请号: | 201710681267.5 | 申请日: | 2017-08-10 |
公开(公告)号: | CN107576721B | 公开(公告)日: | 2019-11-22 |
发明(设计)人: | 黄松岭;彭丽莎;赵伟;王珅;龙跃 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01N27/82 | 分类号: | G01N27/82;G06F17/50 |
代理公司: | 11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 张润<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 缺陷漏磁 漏磁信号 求解 预设 数据库 右移 左移 匹配 基础信息 计算效率 求解过程 信号对应 信号组合 磁偶极 查询 | ||
本发明公开了一种基于素信号组合求解缺陷漏磁信号的方法,该方法包括:首先,获取待求解缺陷漏磁信号对应缺陷的长度l、宽度w和深度d,接着根据宽度w和深度d在预设数据库中获取与宽度w和深度d匹配的素信号fB(x),根据长度l对获取的素信号fB(x)沿长度方向进行左移变换操作和右移变换操作,分别得到左素信号fBL(x)和右素信号fBR(x),对左素信号fBL(x)和右素信号fBR(x)进行组合,得到缺陷漏磁信号f(x)。该方法只需获取缺陷的漏磁信号对应的宽度、深度等基础信息,再通过查询预设数据库,便能从预设数据库获得匹配的素信号,接着经过对素信号简单的左移变换操作、右移变换操作,就能够得到缺陷漏磁信号f(x);相比现有技术中的诸如磁偶极子法或有限元法等复杂的缺陷的漏磁信号的求解方法,该方法大大简化了缺陷的漏磁信号求解过程,提高计算效率。
技术领域
本发明涉及无损检测技术领域,尤其涉及一种基于素信号组合求解缺陷漏磁信号的方法。
背景技术
缺陷漏磁检测是常用的无损检测技术,可用于对缺陷进行评估与量化。由于缺陷漏磁信号反演的病态问题,通常采用可求解缺陷漏磁信号的正向模型结合优化迭代算法来搜索最接近目标漏磁信号的缺陷尺寸,从而实现缺陷量化。缺陷漏磁信号的求解速度和精度,决定了整个缺陷量化过程的计算效率,是缺陷评估的关键环节。
在现有的相关技术中,缺陷漏磁信号的求解方法主要包括磁偶极子法和有限元法,均需要对给定尺寸的缺陷进行建模通过公式计算或仿真得到漏磁信号。有限元法的建模过程尤其复杂,需要进行大量的节点计算和迭代,计算时间过长。且在优化迭代计算中,缺陷建模过程存在大量的重复性的参数设置与计算工作,这进一步降低了缺陷漏磁信号的求解效率。若能将建模环节移至整个漏磁信号求解过程之外,预先获取用于构建缺陷漏磁信号的基础信息,在求解过程中仅通过对这些基础信息仅变换组合来获取待求解的缺陷漏磁信号,从原理上可以大大简化漏磁信号求解过程,提高计算效率。目前尚无对此类漏磁信号基础信息的研究及相关的缺陷漏磁信号求解技术。
因此,一种基于素信号组合求解缺陷漏磁信号的方法成为亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明的目的旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。
为此,本发明的目的在于提出一种基于素信号组合求解缺陷漏磁信号的方法,相比现有技术中的诸如磁偶极子法或有限元法等复杂的缺陷的漏磁信号的求解方法,该方法大大简化了缺陷的漏磁信号求解过程,提高计算效率。
为了实现上述目的,本发明实施例的基于素信号组合求解缺陷漏磁信号的方法,包括:
获取待求解缺陷漏磁信号对应缺陷的长度l、宽度w和深度d;
根据所述宽度w和所述深度d在预设数据库中获取与所述宽度w和所述深度d匹配的素信号fB(x);
根据所述长度l对获取的素信号fB(x)沿长度方向进行左移变换操作和右移变换操作,分别得到左素信号fBL(x)和右素信号fBR(x);
对所述左素信号fBL(x)和所述右素信号fBR(x)进行组合,得到所述缺陷漏磁信号f(x)。
如上所述的方法,所述缺陷的长度方向沿磁化方向;所述缺陷的宽度方向沿在漏磁检测平面上垂直于磁化方向的方向;所述缺陷的深度方向沿被测件的厚度方向。
如上所述的方法,所述根据所述长度l对获取的素信号fB(x)沿长度方向进行左移变换操作,得到左素信号fBL(x)包括:
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