[发明专利]一种直流断路器耐压局放试验电路及试验方法在审

专利信息
申请号: 201710681001.0 申请日: 2017-08-10
公开(公告)号: CN107728031A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 陈龙龙;高冲;汤广福;贺之渊;魏晓光;张升;高阳;周万迪 申请(专利权)人: 全球能源互联网研究院有限公司;国家电网公司;国网辽宁省电力有限公司
主分类号: G01R31/14 分类号: G01R31/14
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司11250 代理人: 李博洋
地址: 102209 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 直流 断路器 耐压 试验 电路 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及直流输电领域,具体涉及一种直流断路器耐压局放试验电路及试验方法。

背景技术

直流断路器是构建直流电网的关键设备,对于直流故障的快速处理和隔离,直流换流站的投入和切除,具有重要的作用。直流断路器耐压局放试验作为一种非破坏性试验,是绝缘检测和诊断的重要方法。这是由于断路器设备绝缘内部常存在一些弱点,例如在浇注、挤制或层绕绝缘内部容易出现气隙或气泡。虽然放电能量很微弱,不影响设备的短时绝缘强度,但是日积月累将引起绝缘老化,最后可能导致整个绝缘在正常电压下发生击穿。目前该试验方法在国内外还尚未有相关学术研究,能够可靠的判断直流断路器的设备绝缘状态。

发明内容

因此,本发明要解决的技术问题在于,现有技术无法可靠的判断直流断路器的设备绝缘状态,为解决上述问题,本发明提供一种直流断路器耐压试验电路及试验方法。

本发明提供的一种直流断路器耐压局放试验电路,包括:直流电源、平衡电容、测量电流互感器、局放测试仪,其中:所述直流电源为待测直流断路器试品提供电能;所述平衡电容与所述待测直流断路器试品并联连接;所述测量电流互感器采集所述直流断路器试品与所述平衡电容的差分信号,对所述差分信号进行放大后输出至所述局放测试仪;所述局放测试仪接收放大后的差分信号,测量所述待测直流断路器试品的局部放电量。

优选地,所述的直流断路器耐压局放试验电路,还包括:限流保护电阻,所述限流保护电阻串联连接于所述直流电源和所述待测直流断路器试品之间,用以将所述直流断路器试品的充电电流保持在预设范围内。

优选地,所述限流保护电阻的电阻值的范围为100Ω~2kΩ,功率为100W~2kW。

优选地,所述直流电源包括并联连接的交流电压源、桥式整流电路及稳压电容。

优选地,所述稳压电容的电容值的范围为10μF~300μF。

为了解决上述问题,本发明还提供一种直流断路器耐压局放测试方法,包括:在预设时间内,将待测直流断路器试品的电压保持在预设范围内;采集所述待测直流断路器试品与平衡电容之间的差分信号;根据所述差分信号获取所述待测直流断路器试品的局部放电量。

优选地,在采集所述待测直流断路器试品与平衡电容之间的差分信号之后、根据所述差分信号获取所述待测直流断路器试品的局部放电量之前,还包括:对所述差分信号进行放大。

本发明技术方案,具有如下优点:对构成直流断路器的半导体及其模块进行试验,以检验每级模块耐压和局部放电量是否满足设计技术要求,从而正确可靠的判断直流断路器的设备绝缘状态,本发明的电路和方法能够兼容半桥、并联、串联和单独器件等直流断路器半导体组件构成形式,简单易行,具有很强的操作性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例中一种直流断路器耐压局放试验电路的一个具体示例的组成图;

图2为本发明实施例中一种直流断路器耐压局放试验方法的一个具体示例的流程图。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,还可以是两个元件内部的连通,可以是无线连接,也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

此外,下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

本实施例提供一种直流断路器耐压局放试验电路,能够兼容全桥、半桥、并联、串联和单独器件等直流断路器半导体组件构成形式,在本实施例中,是以直流断路器试品采用全桥形式为例进行说明,但本发明并不以此为限。

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