[发明专利]一种相位校正方法、装置及磁共振系统

权利要求书

1.一种相位校正方法，其特征在于，所述方法包括：

获取多个回波图像；

获取所述多个回波图像的像素点图像梯度；

根据所述像素点图像梯度，从所述多个回波图像中获取同质区域；

获取所述同质区域的像素点相位及幅值；

根据所述像素点相位及幅值，并基于相位偏移的线性模型，确定所述线性模型参数，以确定相位偏移在复数域的第一线性模型；

根据所述在复数域的第一线性模型，校正所述多个回波图像的相位；

所述根据所述像素点相位及幅值，并基于相位偏移的线性模型，确定所述线性模型参数，以确定相位偏移在复数域的第一线性模型包括：

将所述相位偏移的线性模型转换成复数域的第二线性模型；其中，所述复数域的第二线性模型的表达式为：

D(r)＝D(r,TE_n)*D(r,TE_n)*conj(D(r,TE_n-1)*D(r,TE_n+1))

其中，D(r)是所述像素点的向量偏移值；D(r,TE_n)代表所述像素点在第n个回波图像中的矢量值，其中，n为偶数；TE_n代表第n个回波的回波时间；conj为共轭运算；D(r,TE_n-1)与D(r,TE_n+1)分别代表像素点在与第n个回波相邻前一回波对应的回波图像的矢量值，以及，像素点在与第n个回波相邻后一回波对应的回波图像的矢量值；

根据所述像素点相位及幅值，基于所述复数域的第二线性模型，确定所述第二线性模型的模型参数，以确定相位偏移在复数域的第一线性模型；

根据所述像素点相位及幅值，基于所述复数域的第二线性模型，确定所述第二线性模型的模型参数，以确定相位偏移在复数域的第一线性模型包括：

根据所述像素点相位以及幅值，基于所述复数域的第二线性模型，确定所有相像素点在指定方向上的相位偏移量差值的复数集合；

获取所述复数集合的总和；

确定所述复数集合的总和的相位，以确定所述第二线性模型在所述指定方向上的一阶系数；

根据所述第二线性模型以及所述一阶系数，确定所述第二线性模型零阶系数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述多个回波图像的像素点图像梯度包括：

获取所述像素点在空间中至少一个方向上的第一图像灰度以及在所述方向上的相邻像素点的第二图像灰度；

确定所述第一图像灰度与第二图像灰度的灰度差值；

根据所述灰度差值，确定所述像素点的图像梯度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述灰度差值，确定所述像素点的图像梯度包括：

根据图像梯度计算公式，获取所述像素点图像梯度；其中，所述图像梯度计算公式如下：

其中，Grad(x,y,z)是所述像素点的图像梯度；(x，y，z)为所述像素点的坐标；G_x是所述像素点在X方向上与相邻像素点之间的图像灰度差；G_y是所述像素点在Y方向上与相邻像素点之间的图像灰度差；G_z是所述像素点在Z方向上与相邻像素点之间的图像灰度差。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述像素点图像梯度，从所述多个回波图像中获取同质区域包括：

判断所述像素点图像梯度是否超出第一阈值；

若判断所述像素点图像梯度未超出第一阈值时，确定所述像素点为同质区域像素点并提取所述像素点；

若判断所述像素点图像梯度超出第一阈值时，确定所述像素点为非同质区域像素点。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述像素点图像梯度，从所述多个回波图像中获取同质区域包括：

确定回波图像中任意两个像素点的图像梯度差；

判断所述两个像素点的图像梯度差是否超出第二阈值；

若判断图像梯度差未超出第二阈值，确定所述两个像素点为同质区域像素点并提取所述两个像素点；

若判断图像梯度差超出第二阈值，确定所述两个像素点为非同质区域像素点。