[发明专利]成像透镜、相机模块与电子装置有效

专利信息
申请号: 201710669900.9 申请日: 2017-08-08
公开(公告)号: CN109212638B 公开(公告)日: 2020-11-06
发明(设计)人: 张明顺;周明达 申请(专利权)人: 大立光电股份有限公司
主分类号: G02B3/02 分类号: G02B3/02
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 成像 透镜 相机 模块 电子 装置
【说明书】:

发明揭露一种成像透镜、相机模块与电子装置。成像透镜由光轴至周边依序包含光学有效区及外径区。外径区环绕光学有效区并包含外径曲面、缩减注料痕及净空面。外径曲面与光学有效区同轴于光轴,且外径参考面与外径曲面对应于光轴。缩减注料痕由外径参考面朝光轴内缩,且缩减注料痕包含注料痕曲面。净空面连接外径曲面及缩减注料痕。通过缩减注料痕且法线平行于光轴的成像透镜的剖面上,注料痕曲面的曲率中心较注料痕曲面接近光轴。借此,有助于降低杂散光。本发明还提供一种具有上述成像透镜的相机模块及具有上述相机模块的电子装置。

技术领域

本发明是有关于一种成像透镜及相机模块,且特别是有关于一种应用在可携式电子装置上的成像透镜及相机模块。

背景技术

现今可携式电子装置上的相机模块中通常包含多个成像透镜,且成像透镜的外径区与光学有效区一样光滑明亮而具有较高的反射率,因而无法有效衰减入射至外径区表面的反射光强度,特别是当外径区表面存在平面时,如位于注料痕表面的注料痕平面,将使得集中光束入射至注料痕平面后,可能再几乎完全反射至成像面成为杂散光而影响相机模块的成像品质。

配合参照图8A及图8B,图8A绘示现有技术之一的相机模块8800的示意图(省略部分成像透镜细节),图8B绘示现有技术之一的相机模块8800的成像透镜8830的立体图。由图8A及图8B可知,相机模块8800具有光轴z并包含成像透镜8830,成像透镜8830包含光学有效区8840及外径区8850,光学有效区8840包含物侧面8841及像侧面8842,外径区8850环绕光学有效区8840并包含外径曲面8855、已知注料痕8870及净空面8860。再者,已知注料痕8870包含注料痕平面8879,成像透镜8830离型时切断注料而在净空面8860上形成已知注料痕8870,且注料切断面为注料痕平面8879。注料痕平面8879为一曲率半径本质上无限大的平面,且净空面8860亦为平面,加上成像透镜8830通常具有较小的临界角而容易发生全反射,因此集中光束L入射至注料痕平面8879后将可能全反射至成像面8807形成杂散光,使注料痕平面8879成为鬼影肇生面(Flare Issuing Surface),从而影响相机模块8800的成像品质。

此外,依据相机模块8800的光学成像要求及组装尺寸要求,成像透镜8830需满足的光学有效规格(此处指可允许最小的光学有效区的物侧面的直径)为ψs,成像透镜8830需满足的限高规格(此处指可允许最大的成像透镜的外径的一半,亦即可允许最大的成像透镜的剖面上的外径曲面的曲率半径)为Rs。也就是说,光学有效区8840的物侧面8841的直径为ψ,外径曲面8855的曲率半径为R,当成像透镜8830同时满足条件“ψψs”以及“RRs”时,成像透镜8830才能符合相机模块8800的基本要求,并得以应用于相机模块8800中。举例而言,成像透镜8830需满足的光学有效规格ψs为4.3mm,成像透镜8830需满足的限高规格Rs为2.45mm。

配合参照图8C,其绘示现有技术之一的相机模块8800的成像透镜8830的侧视图,其中图8C是为物侧面8841的侧视图,或可为一通过已知注料痕8870且法线平行于光轴z的成像透镜8830的剖面图。图8C中,净空面8860与外径参考面P之间的最大高度差为d,已知注料痕8870与净空面8860之间的最大高度差为h,已知注料痕8870的宽度为Wg且单位为mm,外径曲面8855的曲率半径为R,光学有效区8840的物侧面8841的直径为ψ且其数值为3.9mm,并远小于成像透镜8830需满足的光学有效规格ψs的数值4.3mm。由此可知现有技术之一的成像透镜8830其上的已知注料痕8870过大,因而压缩光学有效区8840的范围,使得成像透镜8830在为了满足限高规格Rs的情况下,常难以同时满足其光学有效规格ψs。

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