[发明专利]一种偏光片光学量测系统、量测方法及量测处理设备

权利要求书

1.一种偏光片光学量测系统，其特征在于，包括：

量测组件和控制装置；

所述量测组件包括依序设置于测试光的光路上的偏光片载台和光接收器件；其中，所述偏光片载台用于承载待测偏光片，并响应所述控制装置的控制指令进行旋转以改变其承载的所述待测偏光片的偏振方向；所述光接收器件用于接收经过所述偏光片载台后的测试光；

所述控制装置分别与所述偏光片载台和所述光接收器件连接，用于：

在所述偏光片载台上未放置所述待测偏光片时，从所述光接收器件中探测所述测试光的第一光谱；

在所述偏光片载台上放置所述待测偏光片时，控制所述偏光片载台以一旋转角度进行多次旋转，以得到所述待测偏光片的穿透率满足设定要求的角度范围；

以小于上轮旋转的旋转角度的一角度作为新的旋转角度，控制所述偏光片载台在上轮旋转得到的角度范围内以新的旋转角度进行多次旋转，以从所述上轮旋转得到的角度范围内选择出新的所述待测偏光片的穿透率满足所述设定要求的角度范围；执行本步骤至少一次以上后，从最终轮旋转得到的角度范围中选择一角度作为参考角度；

在所述偏光片载台旋转至所述参考角度时，从所述光接收器件中探测所述测试光的第二光谱，并在所述偏光片载台旋转至与所述参考角度垂直的角度时，从所述光接收器件中探测所述测试光的第三光谱；

根据得到的所述第一光谱、所述第二光谱和所述第三光谱计算所述待测偏光片的光学参数。

2.根据权利要求1所述的量测系统，其特征在于，所述控制装置执行控制所述偏光片载台以一旋转角度进行多次旋转，以得到所述待测偏光片的穿透率满足设定要求的角度范围，具体包括：

控制所述偏光片载台以旋转角度β进行多次旋转，并从每次旋转后从所述光接收器件探测到的数据中选择所述待测偏光片的穿透率满足设定要求的一数据，确定所述选择的数据对应的所述偏光片载台的偏转角度A，得到角度范围为[A-β，A+β]。

3.如权利要求1所述的量测系统，其特征在于，

所述偏光片载台每轮旋转的所述旋转角度为0.01°至5°中的角度值。

4.如权利要求1所述的量测系统，其特征在于，所述设定要求为当前轮旋转中探测到的数据对应的所述待测偏光片的穿透率中最低或者最高；

所述控制装置具体用于根据所述第一光谱、所述第二光谱和所述第三光谱计算得到所述待测偏光片的平行穿透频谱D_MD和垂直穿透频谱D_TD，并由得到的穿透频谱计算出所述待测偏光片的光学参数；

其中，平行穿透频谱满足公式D_MD＝F3/F1,垂直穿透频谱满足公式D_TD＝F2/F1，所述F1为所述第一光谱，当所述设定要求为当前轮旋转中探测到的数据对应的所述待测偏光片的穿透率中最低时，所述F2为所述第二光谱，所述F3为所述第三光谱；所述设定要求为当前轮旋转中探测到的数据对应的所述待测偏光片的穿透率中最高时，所述F2为所述第三光谱，所述F3为所述第二光谱。

5.如权利要求1所述的量测系统，其特征在于，所述控制装置还用于在所述光接收器件的入光口前放置遮光板时，从所述光接收器件中探测得到所述量测组件的干扰光谱，并在根据得到的所述第一光谱、所述第二光谱和所述第三光谱计算所述待测偏光片的光学参数之前，将所述第二光谱和所述第三光谱分别减去所述干扰光谱以更新所述第二光谱和所述第三光谱。

6.如权利要求1所述的量测系统，其特征在于，还包括光源组件，所述光源组件包括光源发生器和单光器；所述光源发生器为UV波段稳定光源或可见光波段稳定光源，用于产生所述测试光；所述单光器包括两组光栅，用于将所述测试光分析为单色光；

所述量测组件还包括偏光子，所述偏光子设置在所述光源组件与所述偏光片载台之间的测试光光路上，用于使所述单色光变为线偏振光；其中，其偏光百分比小于等于10^-5；

所述量测组件位于密封环境中；所述光接收器件为积分球；

所述待测偏光片的光学参数包括单体穿透率、平行穿透率、垂直穿透率、色度以及偏亮度；所述控制装置执行四轮旋转，前两轮旋转的旋转角度大于1度，后两轮旋转的旋转角度小于1度。