[发明专利]一种Nand Flash扫描检测方法和系统

说明书

本发明公开了一种Nand Flash扫描检测方法和系统，该方法包括：按一定比例随机选取存储块进行数据错码测试或读写时间测试，基于测试结果获取损坏的page或读写时间异常的page的分布，根据测试类型分别标记其为错码模板和时间模板；基于错码模板或/和时间模板扫描存储块，如果损坏的page或/和读写时间异常的page的容量大于阈值，则标记该存储块为异常块，否则为正常块。该系统用于执行对应方法。本发明通过对局部存储块进行测试以获取不良分布，基于不良分布检测分组的存储块，根据检测结果判断存储块的好坏程度，能够快速实现对存储块的检测，有利于提高生成效率。

技术领域

本发明涉及一种Nand Flash扫描检测方法和系统，属于存储技术领域。

背景技术

随着计算机、移动存储设备的高速发展，大容量的移动存储设备需求越来越广泛，这就要求存储设备有更大的容量，更快的速度和更高的稳定性。通常TF卡、EMMC，SSD都是通过使用大容量的Nand Flash来满足大容量存储设备的需求，Nand Flash的横空出世解决了移动存储设备对容量的要求，但同时量产扫描时间太长也成为一个非常突出的矛盾。目前针对Nand Flash的扫描检测都是全盘扫描检测模式，虽然检测结果比较准确，但是检测时间太长导致量产效率非常低下，无法保证生产效率，而存储块损坏的原因并不是独立出现的，很可能会重复导致其他的存储块发生同样的损坏。综上可知，现有的针对Nand Flash的扫描检测算法无法适应现代社会的实际需要，需要加以改进。

发明内容

为了解决上述问题，本发明通过提供一种Nand Flash扫描检测方法和系统。

本发明采用的技术方案一方面为一种Nand Flash扫描检测方法，包括：按一定比例随机选取存储块进行数据错码测试或读写时间测试，基于测试结果获取损坏的page或读写时间异常的page的分布，根据测试类型分别标记其为错码模板和时间模板；基于错码模板或/和时间模板扫描存储块，如果损坏的page或/和读写时间异常的page的容量大于阈值，则标记该存储块为异常块，否则为正常块。

优选地，所述数据错码测试包括对每个page进行数据读写，当读出的数据和写入的数据的差别大于预设的误差阈值则标记该page为损坏的page，记录其在存储块的位置以生成损坏的page分布。

优选地，所述读写时间测试包括对每个page进行数据读写，当读写时间大于预设的误差阈值则标记该page为读写时间异常的page，记录其在存储块的位置以生成读写时间异常的page分布。

优选地，还包括比较错码模板、时间模板的正常page的容量，标记容量大者为正式模板，基于所述正式模板扫描存储块，当存储块完全匹配正式模板或完全不匹配正式模板，标记其为异常块或正常块。

优选地，还包括基于所述正式模板扫描存储块，如果存储块不完全匹配正式模板，则再次基于所述正式模板扫描存储块，基于比较阈值判断两次扫描结果以标记存储块。

本发明采用的技术方案另一方面为一种Nand Flash扫描检测系统，用于执行上述方法，包括：测试模块，用于按一定比例随机选取存储块进行数据错码测试或读写时间测试，基于测试结果获取损坏的page或读写时间异常的page的分布，根据测试类型分别标记其为错码模板和时间模板；扫描模块，用于基于错码模板或/和时间模板扫描存储块，如果损坏的page或/和读写时间异常的page的容量大于阈值，则标记该存储块为异常块，否则为正常块。

优选地，所述数据错码测试包括对每个page进行数据读写，当读出的数据和写入的数据的差别大于预设的误差阈值则标记该page为损坏的page，记录其在存储块的位置以生成损坏的page分布。

优选地，所述读写时间测试包括对每个page进行数据读写，当读写时间大于预设的误差阈值则标记该page为读写时间异常的page，记录其在存储块的位置以生成读写时间异常的page分布。