[发明专利]开关柜质量的检测方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及开关柜设备技术领域，特别是涉及开关柜质量的检测方法和系统。

背景技术

随着配电网自动化的建设不断深入，作为主要组成部分的中低压开关柜设备数量将会越来越多，其质量水平直接影响到供电企业的供电可靠性、经济利益以及用电客户的生产、生活等，因此建立完善的配网开关柜质量评估检测体系无论对于供电企业还是对于用电客户都具有十分重要的意义。

目前，对配网开关柜的质量评估检测大部分还停留在探索阶段，其中大部分配网开关柜质量评估检测体系过多地考虑了人为评价的因素，其得到的评估检测结果过于主观性，而忽略了客观量化数据的输入。

发明内容

基于此，提供一种开关柜质量的检测方法和系统，解决开关柜质量无法客观评估检测的问题。

一种开关柜质量的检测方法，所述方法包括：

根据待检测开关柜的生命周期建立所述待检测开关柜的质量检测模型，所述质量检测模型包括两级质量指标；所述生命周期包括至少两个生命阶段，每个生命阶段对应一个一级质量指标，每个一级质量指标对应至少一个二级质量指标；

根据所述两级质量指标确定至少两个质量参数，并根据历史运行数据计算各质量参数的质量得分；

确定各二级质量指标的权重，将所述质量得分、所述权重输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数。

一种开关柜质量的检测系统，包括：

模型建立模块，用于根据待检测开关柜的生命周期建立所述待检测开关柜的质量检测模型，所述质量检测模型包括两级质量指标；所述生命周期包括至少两个生命阶段，每个生命阶段对应一个一级质量指标，每个一级质量指标对应至少一个二级质量指标；

得分计算模块，用于根据所述两级质量指标确定至少两个质量参数，并根据历史运行数据计算各质量参数的质量得分；

质量检测模块，用于确定各二级质量指标的权重，将所述质量得分、所述权重输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。

一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述方法的步骤。

上述开关柜质量的检测方法和系统，通过待检测开关柜的生命周期，建立待检测开关柜的质量检测模型，该质量检测模型包括两级质量指标，分别为一级质量指标和二级质量指标，通过两级质量指标可以得到至少两个质量参数，通过计算得到各个质量参数的质量得分，然后将各个质量得分以及确定的二级质量指标的权重输入质量检测模型，就可以得到待检测开关柜的总质量得分。本发明上述方案，根据待检测开关柜的历史运行数据，对开关柜的质量进行检测评估，从而使开关柜质量的评估检测更加客观。

附图说明

图1为一实施例中开关柜质量的检测方法的示意性流程图；

图2为一实施例中开关柜质量的检测系统的示意性结构图。

具体实施方式

为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及取得的效果，下面结合附图及较佳实施例，对本发明实施例的技术方案，进行清楚和完整的描述。

图1为一实施例中开关柜质量的检测方法的示意性流程图，如图1所示，所述方法的步骤包括：

S101，根据待检测开关柜的生命周期建立所述待检测开关柜的质量检测模型，所述质量检测模型包括两级质量指标；所述生命周期包括至少两个生命阶段，每个生命阶段对应一个一级质量指标，每个一级质量指标对应至少一个二级质量指标。

本发明中，开关柜的质量检测是对开关柜整体的评价，并不是指开关柜使用上的质量。在本步骤中，生命周期指的是待检测开关设备从采购到退役之间总的过程，一般来说，对一个待检测开关设备进行检测，会采集大量同类开关设备的状态信息，确保待检测开关设备的生命周期完整。生命阶段是通过采集本次检测的开关设备历史运行数据得到的表征生命周期的时间阶段。一级质量指标是反映生命阶段中最终重要的质量指标，而二级质量指标是一级质量指标更详尽的质量指标。

S102，根据所述两级质量指标确定至少两个质量参数，并根据历史运行数据计算各质量参数的质量得分。

在本步骤中，根据一级质量指标和二级质量指标确定至少两个质量参数，而质量参数的好坏，直接影响对质量参数的评分。

S103，确定各二级质量指标的权重，将所述质量得分、所述权重输入所述质量检测模型，得到所述待检测开关柜的总质量分数。