[发明专利]光学识别方法与系统有效
申请号: | 201710659669.5 | 申请日: | 2017-08-04 |
公开(公告)号: | CN108268829B | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 萧俊贤;余儒育;林俊甫;程瑜铭;张榉馨;蔡惠民 | 申请(专利权)人: | 莆田杰木科技有限公司 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
代理公司: | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人: | 孙佳胤 |
地址: | 351100 福建省莆田市*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 识别 方法 系统 | ||
一种光学识别方法与系统,用以感测一生理特征,其包含:提供一光源,投射至生理部位以产生一反射光;接收反射光以产生一原始影像;根据原始影像以产生对应的多个斜纹信息;转换斜纹信息为一个纹理识别矩阵;以及根据纹理识别矩阵,以计算生理特征。
技术领域
本发明涉及一种光学识别方法,特别为根据其中原始图像映射的斜纹信息,以决定生理特征的光学识别方法,以及一种光学识别系统,用以感测一生理特征。
背景技术
现有技术的光学识别系统,例如电容式或电阻式运动的指纹感测,其元件成本高,其感测方式为根据手指按压范围内的几何形状等,来判断手指按压范围中心的位置。因此,现有技术的感测范围需大于手指按压范围,才能大于手指按压范围,以根据手指的移动,而判断手指的移动。然而,现在手持装置的尺寸越来越小,装置内部空间零件也随之越来越小。例如,当感测范围小于手指按压范围时,目前无对应的手指运动感测的技术。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足与缺陷,提出一种光学识别方法与系统,能够根据其中原始图像映射的斜纹信息,以决定生理特征,比对所需像素较少,其所需计算资源与电路元件十分简单。
为了实现上述发明目的,就其中一个观点言,本发明提供了一种光学识别方法,用以感测一生理特征,其包含:投射光至一生理部位以产生一反射光;接收反射光以产生至少一原始影像;根据原始影像以产生对应的多个斜纹信息;转换斜纹信息为至少一纹理识别矩阵;以及根据纹理识别矩阵,以决定生理特征;其中,感测单元具有一水平方向与一垂直方向,各斜纹信息具有一正斜率纹理或一负斜率纹理,其中正斜率纹理对应于水平方向与垂直方向,具有介于零与正无限大之间的一正斜率;负斜率纹理对应于水平方向与垂直方向,具有介于零与负无限大之间的一负斜率。
一实施例中,生理部位包含一手指、一手掌、或一虹膜,其对应的生理特征分别包含一指纹特征、一手指运动轨迹、一手势轨迹、一手势方向、或一虹膜特征。
一实施例中,原始影像具有一像素矩阵,而前述的根据原始影像以产生对应的斜纹信息的步骤包含:于像素矩阵中选取一像素取样矩阵,像素取样矩阵包含一中心像素、以及依照水平方向与垂直方向围绕中心像素的右上角像素、右下角像素、左上角像素、与左下角像素;以及根据像素取样矩阵,以获取像素取样矩阵对应的斜纹信息。
一实施例中,原始影像具有多个水平像素列,水平像素列于一水平方向上具有多个位像素,水平像素列于一垂直方向上排列以形成像素矩阵。像素取样矩阵包含中心像素、右上角像素、右下角像素、左上角像素、与左下角像素,以使像素取样矩阵形成一方形像素矩阵。
正斜率纹理负斜率纹理一实施例中,前述的根据原始影像以产生对应的斜纹信息的步骤还包含:将像素取样矩阵转换为一特征矩阵,其中特征矩阵于水平方向与垂直方向,具有相同数目的水平元素列与垂直元素列,其中同一水平元素列内元素的位值相加总和为零,以及同一垂直元素列内元素的位值相加总和为零。
一实施例中,前述的根据原始影像以产生对应的斜纹信息的步骤还包含:通过一屏蔽矩阵,与各特征矩阵进行卷积(Convolution)运算,以产生对应各像素取样矩阵的卷积运算值。
一实施例中,前述的转换斜纹信息为纹理识别矩阵的步骤包含:将对应各像素取样矩阵的卷积运算值,转换为对应于原始影像的纹理识别矩阵。一实施例中,将对应于各像素取样矩阵的卷积运算值,转换为单个1位(1bit)斜纹信息。
一实施例中,前述的转换多个斜纹信息为至少一纹理识别矩阵的步骤包含:将对应各像素取样矩阵的斜纹信息,转换为纹理识别矩阵中对应于原始影像的元素位置的斜纹信息。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于莆田杰木科技有限公司,未经莆田杰木科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710659669.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:指纹感测电路与电子装置
- 下一篇:光学识别方法