[发明专利]一种存储设备数据完整性的测试方法及系统有效

专利信息
申请号: 201710657120.2 申请日: 2017-08-03
公开(公告)号: CN107452427B 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 邢鹏飞 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 济南诚智商标专利事务所有限公司 37105 代理人: 王汝银
地址: 215100 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 存储 设备 数据 完整性 测试 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种存储设备数据完整性的测试方法,其特征在于,所述方法包括下述步骤:

控制在测试主机端和存储设备之间建立交互通讯通道;

在测试主机端执行测试数据源写指令,并控制在所述存储设备上预先写入测试数据源;

当判断测试数据源写动作完成时,对所述存储设备执行系统破坏,并执行系统恢复动作;

当系统恢复完成时,在所述测试主机端执行测试数据源验证指令,并控制在所述存储设备上读取数据预先写入的测试数据源;

当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配,若匹配则确定测试通过;

其中,测试数据源的读、写的流程可以通过iod测试工具完成,其中:

在测试主机端安装该iod测试工具包,然后该iod测试工具对卷dm-2进行数据读写,iod写入特定模式的数据源,包括pattern 3模式的,同时控制写入数据源的大小,其通过控制存储设备的磁盘的逻辑块寻址模式实现,其中,500G的Lba值等于500G*1024*1024*1024/512=1048576000,若写入10G的特定模式的数据源,将maxlba设置为:

10G*1024*1024*1024/512=20971520;

iod测试工具的写入命令为:iod-blockdevice-oper packwrite-pattern 3-minlba0x0-maxlba 0x-xfrlen 64;

验证数据源的执行命令为:iod-blockdevice-oper packcompare-pattern 3-minlba0x0-maxlba 0x-xfrlen 64;

其中:packwrite为数据写入,pattern 3为数据模式,minlba为磁盘卷设置的最小lba值,maxlba为磁盘卷设置的最大lba值,packcompare为写入数据的比较;

那么往磁盘卷里写入10G的pattern 3模式的测试数据源的执行命令为:iod-blockdevice-oper packwrite-pattern 3-minlba 0x00000000-maxlba 0x20971520-xfrlen 64;

写入10GB的测试数据源后就会停止IO读写;

执行命令iod-blockdevice-oper packcompare-pattern 3-minlba 0x00000000-maxlba 0x20971520-xfrlen 64,对写入的pattern 3模式的测试数据源进行验证比较,如果输出刚好到最大lba值20971520,那么该磁盘卷的数据源完整没有丢失;

其中,xfrlen 64为数据帧的长度单位,即每帧64字节。

2.根据权利要求1所述的存储设备数据完整性的测试方法,其特征在于,所述在测试主机端和存储设备之间建立交互通讯通道的步骤包括下述步骤下述步骤:

在存储设备上创建卷,并通过映射机制映射给所述测试主机端;

在所述测试主机端,识别映射形成的卷,其中,所述测试主机端采用多路径模式。

3.根据权利要求2所述的存储设备数据完整性的测试方法,其特征在于,所述在测试主机端执行测试数据源写指令,并控制在所述存储设备上预先写入测试数据源的步骤之后,所述当判断测试数据源写动作完成时,对所述存储设备执行系统破坏,并执行系统恢复动作的步骤之前还包括下述步骤:

显示预先写入测试数据源的内容和第一最大存储设备磁盘卷值。

4.根据权利要求3所述的存储设备数据完整性的测试方法,其特征在于,所述当系统恢复完成时,在所述测试主机端执行测试数据源验证指令,并控制在所述存储设备上读取数据预先写入的测试数据源的步骤之后,所述当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配的步骤之前还包括下述步骤:

显示读取测试数据源的内容和第二最大存储设备磁盘卷值。

5.根据权利要求4所述的存储设备数据完整性的测试方法,其特征在于,所述当判断读取的测试数据源与预先写入的测试数据源是否匹配的过程为判断所述第一最大存储设备磁盘卷值和第二最大存储设备磁盘卷值是否相等。

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